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摘要 /tdRUX pYN.tD FO
*RYok{w Dc@OrQu 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 f?JP=j b
I"+b\K 任务说明 CH9Psr78 &c[ISc>N{
k%D|17I E4N/or 多重光源 NI
r"i2 g{6FpuA|0 l"zwH /6y9u} 螺旋相位板 i2P:I A|@ u_HCXpP!Q
]A=yj@o$xN L}=DC =E 探测器插件 @#r6->%W S:lie*Aux*
&M>o 6n A/LW\x 参数运行 .QU] #fx>{ vzH
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yrn} 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ;RK;kdZ i&TWIl8 Usage of the Parameter Run Document XvSng"f. 9^+E$V1@ 非时序建模 ;#bDz}|\AN XEBeoOX/
'iWDYZ? FLo`EE":O( 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 oTJ^WePZQ w2SN=X~# Channel Setting for Non-Sequential Tracing T' =6_?7K4 kBU`Q{. 总结 – 组件… p%R+ c
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0`/CoP<U \`0s %F:V}
F'-,Ksn $[g#P^ 系统观感 y?V^S;}&] 'gtcy
m[CyvcF*u r=HL!XFk cd|/4L6 发射&损耗激光 pAws{3(Q G0A\"2U
Wn{MY=5Y iA<'i8$P 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 q/^?rd Bg[_MDWc-P F/PH=Dk 3D STED 轮廓 9;Q|"
T Eunmc
;X;(7 OZ33w-X< 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 U[? f@.& kl1/( 受激发射损耗效应 l"1*0jgBw i&%m^p 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ,D'm#Fti R$p(5>#\5
/'/i?9: )HcLpoEi VirtualLab Fusion 技术 on;>iKta9 $<9u:.9xf
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~4na{6x O^PN{u 文件信息 )FSEHQ / ykc`E?f
n.i8?: m[z$y 进一步阅读 +v~x_E5FP • Simulation of Multiple Light Source in VLF qyAnq%B} • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy a`8]TD sjOv!|]A 市场图片 G3 |x%/Fbp UM`{V5NG#
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