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摘要 z#Cgd-^7.# FNHJHuTe
Sd?+j;/" 5X}OUn8 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 omZ
bn }Zp5d7(@w 任务说明 V5up/ 6b,1 3IYbgUG
2O+fjs "*oN~&flc 多重光源 +]S!pyZ" G_5E#{u EWp'zbWP x-Fl|kwX.5 螺旋相位板 ?t"bF :! N,?D<NjXl
MtXd}/ Mb\[` 4z 探测器插件 q,fk@GI'2 :qxd
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N 5 #e5*Dr8 参数运行 ghVxcK 2\L}Ka|v
r57rH^Hc TM$Ek^fQ. 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: *h Bo,
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# Usage of the Parameter Run Document #7dM % !Z`xwk"! 非时序建模 ealh>Y 2apQ4)6#[H
oQ_n:<3X *l\vqgv.Z 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 'P,F)*kh T7!=KE_z Channel Setting for Non-Sequential Tracing }hX"A!0 bmu<V1[W 总结 – 组件… G)wIxm$?0 ^p !4`S
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]Zz<9zix {r?qI 系统观感 wfc[B;K\ #$(wfb9
X>6VucH{\ ,wlSNb@' tf@x} 发射&损耗激光 NurbioFL $/uNV1]o
-hP-w> ;q&\>u: 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 p; ZEz<M w_
po47S4 ,*$/2nB^ 3D STED 轮廓 hT<:)MG)+K _*w}"\4_
D7Nz3.j Pf]O'G&F 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 e`Z3{H} I#tEDeF2 受激发射损耗效应 Ev\kq>2O L5*,l`lET 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ,As78^E{ ]m(5>h#
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5B<G;if, db!2nImNu\ 进一步阅读 Q nqU!6k@ • Simulation of Multiple Light Source in VLF #dGg !D • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy '#.:%4 AOaf ,ZF
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