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摘要 2/Y e<.# E^m)&.+'M
]\]mwvLT t{ `-G*^ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 8#4Gs Q" Q5u3~Q'e 任务说明 v&7x ~!O XpA|<s
8ZJ6~~h `6LVXDR 多重光源 W)Y:2P<. )bpdj, ,mK UCG %o`Cp64`Q 螺旋相位板 *OHjw;xm+ =#wE*6T9
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`_"?$ v2F ^,[gO#hgz 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: @[n%q.|VB |>-0q~ Usage of the Parameter Run Document 6+C]rEY/o
cCIs~*D 非时序建模 3ZvQUH/{W g%D.sc)69
"c![s% JqEo~]E] 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 rKl Hq,NOP Channel Setting for Non-Sequential Tracing 'o7V6KG NI C.c3 总结 – 组件… wB< |