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摘要 KZjh<sjX| bvtpqI QZ
'|4+<# ^;_~mq. 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 8NHm#Z3Ol M,fL(b;2 任务说明 rk8pL[| Zkd{EMW
F_*']:p [@Ac# 多重光源 lndz CI{2(.n4 AfA"QCyO dQ8RrD=$& 螺旋相位板 <(KCiM=E$ 5e+j51
zz*PAYl. AU\=n,K7 探测器插件 0 SSdp< <;Hb7p3N
7z$Z=cs eS!]..%y 参数运行 6nk}k]Ji fi
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,4H? + |! ,LA'^I? 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 'u<e<hU iI<c Usage of the Parameter Run Document 6RbDc* w80X~ 非时序建模 LWM<[8wJ4 /f[Ek5/-0
mEJ7e# XKTDBaON 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 qO"QSSbZqQ z}Cjk6z @ Channel Setting for Non-Sequential Tracing s^zlBvr|. Gt&yz"?D 总结 – 组件… %!\=$ s}g *W8n8qG%T
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4;L|Ua 4C`RxQJM 系统观感 >2s6Y -
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7"Xy8]i{z L~5f*LE$1 |X=p`iz1& 发射&损耗激光
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9CS"s_ 0Ye/ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 QT+kCN qA '^b~ (n k g 3D STED 轮廓 ~S('\h)1 0cG[<\qT
T)e2IXGN <ci(5M 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 X.#*+k3s0 zCJ"O9G<V 受激发射损耗效应 JAHg_! sN1H{W 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 2@MpWj4 YA,.C4=s
yr},pB ^!B]V>L- VirtualLab Fusion 技术 3YLK?X8 h1q3}-
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h.?<(I 文件信息 Zw)=Y.y! cy@oAoBq
fa]8v6 yreH/$Ou8 进一步阅读 (^~a1@f,J • Simulation of Multiple Light Source in VLF pbG-uH^ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy f=91
Z_M F7<M{h5s 市场图片 5:38}p9` s[7$%|~W
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