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摘要 LLMkv!%D sdY6_HtE
C<pF13*4 +RM3EvglDQ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 tP UQ"S (]JJ?aAF 任务说明 _VJb i,V Sa Nx;xgi
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uk[["3 gm8H)y, 多重光源
tnsYY .F]6uXd &45.*l|mo NO&OuiN 螺旋相位板 ZE9*i}r
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lIf Our 1>Op)T>{c 探测器插件 D -jew &B ]Kf HuYjM
?;$g, 2n lfhB2^^ 参数运行 cc>h=%s` k";;Snk
au8)G_A sU8D;ML7 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9SrV,~zD []@Mk Usage of the Parameter Run Document aoBM_# 6V8"[0U 非时序建模 f; 22viE DCNuvrZ
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| 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 8z+ CYeV 0I.7I#'3O Channel Setting for Non-Sequential Tracing .8,lhcpY kqyY:J 总结 – 组件… w<'mV^S XW19hG
q3;HfZ $FAl9
ie_wJ=s wk3yz6V2 系统观感 n>@(gDq 0uZH H
2sXWeiJy; s)-=l_4T # wG}T
.* 发射&损耗激光 UE(%R1Py nJ6bC^*)U
O|8p # z- ()7WY 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 5VISP4a kefQH\<X l9-(ofY*J 3D STED 轮廓 nY6^DE2f fFsA[@5tul
zW\&q!`IRP %=GnGgu 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 :imp~~L; 7VR+EV 受激发射损耗效应 xY@V. <Q%\pAP}b 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ba
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IAg#YFI Xbfn@7m VirtualLab Fusion 技术 A_CK,S*\,& Ru2kC} Dx!
+}%4]O; aj1Zi3h 文件信息 ^f@EDG8 hMDy;oQ
)y._]is)b h\jwXMi,tj 进一步阅读 b]@^SN9 • Simulation of Multiple Light Source in VLF U"/":w ~ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 2b2/jzO}J - wCfwC 市场图片 bz,C%HFA % gmf
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