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摘要 C\1x3 .J2tm2]"EZ
Y:]m~-T z_t%n<OvK 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Z!oq2,ia c+G%o8 任务说明 $Rf)i W;h E:$r" oS
l1"* b|u0a6 多重光源 'a=QCO
0 ::p(ViYG &h;J_Ps ^wb$wtL(' 螺旋相位板 je5GZFQw &z;1Z
U3M;6j9` I{uwT5QT- 探测器插件 5>S)+p Cg];UB}k
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3Bn =g$>]AE 参数运行 t@3y9U$ :lp
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l]Q<BV 2D'$ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: &Q[|FO;[ :Wd@Qy?; Usage of the Parameter Run Document 75*q^ui "\l#q$1h 非时序建模 yFjjpEpnFt V-w{~
|)b:@q3k+n m 9.BU2. 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 s=83a{#K uu;1B.[b Channel Setting for Non-Sequential Tracing :a'[4w =~
[RG 总结 – 组件… _?c7{ dNT<![X\
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3i raB',Vp
l1ViUY&Z V D.T=( 系统观感 N7mYE M|}V6F_y
GVUZn// /=S\v<z $Lt'xW`8 发射&损耗激光 3D2i32Y@! P|QM0GI
aP/Ff%5T tu5T^"BqO 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 `tEW.s%Y(6 ){$*<#&H gfly?)V nF 3D STED 轮廓 V[ 'lB.&t s|9[=JMG
F6gU9=F1< ]jgMN7 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 nr- 32u W*^_Ul| 受激发射损耗效应 e^yfoE<7 ^!*nhs% 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 x<\5Jrqt [K""6D
>Q[3t79^ 7&3 VirtualLab Fusion 技术 bO+]1nZ. 6}>CPi#
6\vaR# L-[A1#n 文件信息 A&D<}y/% W}'l8z]
G|.6%- =+w!fy 进一步阅读 $nr=4'yZ • Simulation of Multiple Light Source in VLF {iYrC m[_ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy r2T$
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