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摘要 AFE~
v\Gz NyNXP_8
8&b,qQ~ tf`^v6m%] 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ^SrJu:Q_ !%%6dB@%t 任务说明 IF:;`r@% %6f*{G
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J<jy2@"tXo $*=<Yw4 多重光源 Yr[\|$H5 oe-\ozJ0 amY!qg0P* wNd isI 螺旋相位板 T1=fNF s?L
II{&{S'HU _KAQ}G3 探测器插件 pIqeXY I51@QJX
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z E$p+}sP(C 参数运行 ]N F[>uiW k\?Ii<m
o0KL5]. |aq"#Ml) 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: JT_ `.( `3&v6 Usage of the Parameter Run Document =Jb>x#Y 6qnzBA7 非时序建模 Z/+#pWBI! tK\~A,=
JZyAXm% A2Gevj?F$ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 [` 7ThHX 3)ywX&4"L Channel Setting for Non-Sequential Tracing {3aua:q YNi.SXH 总结 – 组件… &
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P/_['7 *J`O"a 系统观感 /%io+94 TOQP'/
{bY%# m i=2N;sAl FU4L6n 发射&损耗激光 nAdf=D'P b d!Y\OD
d/~9&wLSb DSn_0D 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 hp|YE'uYT L.JT[zOfb *\F~[ 3D STED 轮廓 IW] rb/H 3/eca
R0*|Lo$6 6.yu-xm 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ;9QEK]@ }Jj}%XxKs 受激发射损耗效应 @f3E`8 ;
BHtCuY 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 KoT%Mfu
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wN~_v-~*Q 5\VWC I VirtualLab Fusion 技术 DZtsy!xA A|{(/G2*
sK?twg;D*| q'Pf] 文件信息 bW(0Ng j^RmrOg,
[j+sC* PLBrP 进一步阅读 a/xn'"eli • Simulation of Multiple Light Source in VLF MkXmA`cP • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy c'\dFb9a SNk=b6`9 市场图片 Z6MO^_m2 *MW\^PR?
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