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摘要 /rquI y^ O)hNHIF
"Aynt_a. #e=[W)) 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ZqSczS7uf >B iJ/[9 任务说明 P:Bg() f>Ge
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?O28Q DUI +Ix;~ 多重光源 Tfj%Sb,zM
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hh`o\$ qLcs)&}/A [z/OY&kF 螺旋相位板 &Y\`FY\ -&+[/
?8`b Nkc=@l{ 探测器插件 u-8,9 Z5v\[i@H!
sVGyHA ]@_*O$ 参数运行 DRal{?CH ]c*&5c$
-2f_e3jF KZ&{Ya 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: -_B*~M/vV` oB+drDp8U Usage of the Parameter Run Document PKmr5FB K1jE_]@Z 非时序建模 BjSLbw-C Uh{|@D
kid@*.I \:8
>@Q 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 L )kwMk H|5\c= Channel Setting for Non-Sequential Tracing d7A vx
2>p>AvcK 总结 – 组件… ZPRkk?M}. %R."
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Db@$' |BN^5mqP6 系统观感 eX>x
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]U82A**n C`Zz\DNG@ 8!sl) R 发射&损耗激光 }Dp/K4 CKCot
jhg0H2C8 /GRkQ", 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 lG6P+ Z/nf ?`8jn$W^ VB o=*gn,$ 3D STED 轮廓 q-}qrg B^nE^"b
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GUSEbIz): 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 V^apDV\AV DxoW,GW 受激发射损耗效应 54r/s#|-3 $b OiP 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 j`7q7} OO#_0qK
'*lVVeSiFw ^ZuwUuuf VirtualLab Fusion 技术 "n'kv!?\ }LeizbU
lub_2Cb|j m) QV2n 文件信息 ~HBQQt ZD ~ra7
0 7b=Zhh FLUvFD 进一步阅读 (X zy~l< • Simulation of Multiple Light Source in VLF RqB 8g • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy zo83>bt TMJq-u51 市场图片 4 '"C8vw. }2%L
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