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摘要 Zjn1,\(t~u xe6V7Wi/Tt
4J`-&05O Ux?G:LLz 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 2\.23 c8]%,26. 任务说明 g,*fpk ^y ', l
! 1?u0 >Giw\|:f( 多重光源 R~A))4<%% X`&Us HQ=pf > `_/1zL[ 螺旋相位板 )40YA\V N1g;e?T':
\Qv:7;? WSeiW 探测器插件 @>'Wiq! :T6zT3(")D
8Rw:SU9H?T S+6YD0 参数运行 X_JC1 c uAp,!
d_:tiHw$ .ozBa778u 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: =$~x] V^D1:9i Usage of the Parameter Run Document R(y`dQy<K *2pE39 非时序建模 "/^kFsvp 4u|6^wu.I
*x#5S.i1 )i39'0a 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 e6jdSn )('{q}JxV Channel Setting for Non-Sequential Tracing 3!*`hQ;s }EfRYE$E 总结 – 组件… S)2 U oj [A!=Hv_$
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`i!-@WN" 系统观感 J{EK}' \FO
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发射&损耗激光 eBECY(QMQ K}S=f\Q]
TSL/zTLDJ \=W t{ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 5oD%~Fk l ,qgR+]?({ Tc;BE 3D STED 轮廓 h2]GV- E&W4`{6K4
cz>`$Zz !G~\9 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Me,AE^pgL' #0qMYe>Y 受激发射损耗效应 U@:iN.. !.{{QwZ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 f V/ s.}:!fBk
~Oj-W6-+&, *UG=dl#F# VirtualLab Fusion 技术 f7]C1!] ;}4e+`fF|
+7)/SQM5 GZFLJu 文件信息 f9E.X\" Lr(wS {
F>3fP dG]s_lb9H 进一步阅读 hRN>]e,! • Simulation of Multiple Light Source in VLF ;V~~lcD&Y` • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy iuq%Q\0@w 7\;gd4Ua1 市场图片 VrRBwvp-K k{$Mlt?&-
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