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摘要 AvfSR p (J
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:70[zo7n' A NR?An 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 H$bu*o-Z Oi+9kk
e 任务说明 e`27 ? >> yK_yg
6q-X$ %{?EfULg 多重光源 G6]W'Kk }TI"j{(QJ #;4<dDVy OHTJQ5%zL 螺旋相位板 (v+nn1, qS1byqq78l
!~#zH0# E}LYO: 探测器插件 BC.~wNz6 }TfZ7~o[
O~D>F*_^j "jS@ug 参数运行 1-JdQs6 y:,Ro@H%
]@LeyT'cY :E`/z@I 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ' b1k0 9' onqfmQ,3E Usage of the Parameter Run Document h]WPWa)M }h{8i_R 非时序建模 >8%<ML TC[(mf:8
e x"E50 $o}Ao@WkO 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 drRi<7
i ?D[9-K4Vn Channel Setting for Non-Sequential Tracing xb8S)zO]Q 3'3E:}o| 总结 – 组件… A:Y
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M=qP 系统观感 :xwyE(w -]hk2Q0
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8B> 发射&损耗激光 4gKu8G #^FDG1=
ou V%*<Ki kxvzAKz~ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 +q<G%PwbV `_;sT8 P6G&3yPt 3D STED 轮廓 L'A9TW2 WlJ=X$
HgY [Q}7s @*>kOZ(3 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 r.z= LZR
x>q^ 受激发射损耗效应 YmwUl> @{ 9I1D'7wI^^ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 PoB-:G6 !{S& "
AT{rg/oSf "O (N=|b VirtualLab Fusion 技术 ~6nY5 Nv[MU@Tv
lq'MLg =%=lq0GF0 文件信息 1U?,}w Py72:;wn
NoAgZ{)) w ag^Sk 进一步阅读 Vd&&GI(:?^ • Simulation of Multiple Light Source in VLF r `;_ #&b • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy ,h<xL- ?zP/i(1y 市场图片 .D8|_B 'X%5i2
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