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摘要 ZxY%x/K *IfLoKS'
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=o.wf 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 p v%`aQ]o{ \K55|3~R 任务说明 K '7M\:zy 0"LJ{:plz
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mf \\xoOA. 多重光源 g=Rl4F] v:|_!+g: 9n%vz@X *7FtEk/l 螺旋相位板 M:rE^El %xPJJ$P
67?O}~jbG 6C7|e00v 探测器插件 `B-jwVrN( A63=$
2Jm#3zFYz3 }}G`yfs}r 参数运行 RR
|Z, 0QcC5y;
i_Ol vuy~ "V'<dn 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: |ZC@l^a7 epXvk
& Usage of the Parameter Run Document Cj'XL} &P' d&B1
非时序建模 {_C2c{ 9(eTCe-~6
)&Af[mS yzWVUqtXm 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 QN)EPS:y /3#) Channel Setting for Non-Sequential Tracing +7E&IK [`(W(0U% 总结 – 组件… t[}&*2"$/ \
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'8Wu9 phT s`#g<_ {X
Z@(m.&ZRx q[}W&t, 系统观感 {?X:?M_ vX30Ijm
n~_;tO w Dp5HZ> ?hBj q 发射&损耗激光 &+|bAn9AJ L+K,Y:D!W
;r?s7b/> "*8>` 6 E 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 >v#6SDg 9KCeKT>v MMU>55+- 3D STED 轮廓 6v?tZ&,
G :6TLT-B
!:2_y'hA `}.jH1Fx/m 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 #kQ1,P6,( U2G[uDa; 受激发射损耗效应 .C|dGE?, TdeHs{| 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 WU\Bs2 l3N '@GO
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Lo*vt42{4 VirtualLab Fusion 技术 \ORE;pG q~. .Z Y`7
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"N3!!3 E3V_qT8 进一步阅读 !ZS5}/ZU • Simulation of Multiple Light Source in VLF s:xt4< • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy Owz>g4l
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