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摘要 x%m%_2%Z /QWvW=F2<
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/HHy, 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Gbr=+AT @Z
%ivR: 任务说明 mbxZL<ua \BTODZ:h
NZLxHD]mp ox~o J|@ 多重光源 m)t;9J5 :Zbg9`d* )._; ~z! KNvZm;Q6 螺旋相位板 Uw. `7b>B O7m(o:t x3
<4si/=
}<v@01 探测器插件 ?%-DfCS %COX7gV
@s;;O\ HZC"nb}r4 参数运行 {yHCXFWlS QvlObEhcS
5oW!YJg qFCOUl 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: B$fPgW- ?}tFN_X" Usage of the Parameter Run Document (ylTp]~mR- @sW24J1q+ 非时序建模 9k'7832u &tLgG4pd
(&F}/s gbi mI-]/: 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 fP
1[[3i A5I)^B<( Channel Setting for Non-Sequential Tracing ;>EM[u KK/tu+" 总结 – 组件… S"bg9o X8a/ `Y,
BQE|8g'&T r[`9uVT/
VK\X&Y3l +K:Dx!9 系统观感 N]Yd9tn{ P6'1.R
Z*]9E^ O~#!l"0 L+ }I+E\< 发射&损耗激光 ,i?nWlh+ mW(W\'~_~
|PCm01NU! 9X+V4xux 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 `_Zg3_K.dS 36&e.3/# B:yGS*.tu 3D STED 轮廓 hB]Np1(' .GPT!lDc
O'p9u@kc ios&n)W& 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 KI iO a8e6H30Sm 受激发射损耗效应 ed{ -/l~j c(f 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ~]|6T~+]83 4<w.8rR:A
Af~$TyX av8B-GQI*# VirtualLab Fusion 技术 )5Q~I,dP 9IdA%RM~mH
CAig]=2' Wa>}wA=v 文件信息 d=$Mim ^qvZXb
T[w]o}>cW XB;7!8| 进一步阅读 ~f&E7su-6+ • Simulation of Multiple Light Source in VLF w_"E*9 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy :(U,x<> hE'-is@7 市场图片 gS!:+G% x$A+lj]x
P-9)38`5
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