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    [技术]受激发射损耗(STED)显微镜原理 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2025-06-25
    摘要 LLMkv!%D  
    sdY6_HtE  
    C<pF13*4  
                                                                      
    +RM3EvglDQ  
    受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 tPUQ"S  
    (]JJ?aAF  
    任务说明                                                                           _VJb i,V  
    SaNx;xgi  
    (- uk[["3  
    gm8H)y,  
    多重光源                                                                           tnsYY  
       .F]6uXd  
    &45.*l|mo  
    NO&OuiN  
    螺旋相位板                                                                           ZE9*i}r  
    I|.B-$gH  
    lIf Our  
    1 >Op)T>{c  
    探测器插件                                                                           D -jew&B  
    ]KfHuYjM  
    ?;$g,2n  
    lfhB2^ ^  
    参数运行 cc>h=%s`  
    k";;Snk  
                                                                            
    au8) G_A  
    sU8D;ML7  
    为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9SrV,~zD  
    []@Mk  
    Usage of the Parameter Run Document aoBM _#  
                                                                                     6V8"[0U  
    非时序建模 f; 22viE  
    DCNuvrZ  
                                                                          
    B!5gD   
    ' ft  |  
    将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 8z+ CYeV  
    0I.7I#'3O  
    Channel Setting for Non-Sequential Tracing .8,lhcpY  
                                                                                     kqy Y:J  
    总结 – 组件…           w<'mV^S  
    XW19hG  
                                                                
    q3;HfZ  
    $FAl9  
    ie_wJ=s  
    wk3yz6V2  
    系统观感 n>@(gDq  
    0uZHH  
                                                                    
    2sXWeiJy;  
    s)-=l _4T  
    # wG}T .*  
    发射&损耗激光 UE(%R1Py  
    nJ6bC^*)U  
                                                                            
    O|8p #  
    z-()7WY  
    光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 5VISP4a  
    kefQH\<X  
                                                                                     l9-(ofY*J  
    3D STED 轮廓 nY6^DE2f  
    fFsA[@5tul  
                   zW\&q!`IRP  
                                                        
    %=GnGgu  
    注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 :imp~~L;  
    7VR+EV  
    受激发射损耗效应                                                                           xY@V.  
    <Q%\ pAP}b  
    为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ba ,2.|  
    t,&1~_9  
    IAg#YFI  
    Xbfn@7m  
    VirtualLab Fusion 技术                                                                           A_CK,S*\,&  
    Ru2kC} Dx!  
    +}% 4]O;  
                                                                                      aj1Zi3h  
    文件信息 ^f@EDG8  
    hMDy;oQ  
    )y._]is)b  
    h\jwXMi,tj  
    进一步阅读 b]@^SN9  
    • Simulation of Multiple Light Source in VLF
    U"/":w ~  
    • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 2b2/jzO}J  
    - wCfwC  
    市场图片 bz,C%HFA  
    %gmf  
    .]P@{T||Y  
     
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