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摘要 aSdh5? IhnHNY]<g
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P 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 kR$>G2$! Py7!_TX 任务说明 g? N~mca$ S$J}>a#Ry
RapHE; < VH[r@Pn 多重光源 Y$xO&\&) *z[G+JX !<r+h,C 0q'd }D W 螺旋相位板 uo0g51%9 xw_VK1
h 'VN& T, wKF #8Y 探测器插件 J-*&& OQzJRu)mF#
mr:;Wwd <@i.~EL 参数运行 ,M2u (9 Ow7NOhw
K&FGTS, GMmz`O
XN 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 50!/% tP; &$y.8 Usage of the Parameter Run Document OLXkiesK{ %Q]u_0P* 非时序建模 *M5: \+ >!+.M9
Y.I-hl1<r G| 7\[!R 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 DLMG<4Cd~ fDc>E+, Channel Setting for Non-Sequential Tracing Gvo(iOU ,h21 h?6 总结 – 组件… Y"
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O+;0|4V% (H *-b4]/ 系统观感 [c4.E" `-zdjc d
?]%JQ]Gf* FFXDt"i2 d_9Fc"C~ 发射&损耗激光 Ke-Q>sm2Q ||v=in
`B+%W 0P`wh=") 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Li ,B, D|I(2%aC Tk s;,C 3D STED 轮廓 QFoZv+| A(duUl~
`NA[zH,w3 $,08y 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 n+@}8;oeP ];Whvdnv 受激发射损耗效应 1A^iUC5) ,2S
<#p! 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ^|}C!t+ >(z{1'f{
"?,3O2t {frEVHw VirtualLab Fusion 技术 1!8*mk_R{ 6h>8^l
Qu]0BVIe s#w+^Mw$ 文件信息 RBx`<iBe vZ
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pn9 ~J2-B2S! 进一步阅读 q?z6|]M|u • Simulation of Multiple Light Source in VLF `.;7O27A^% • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy LoHWkNZ5: N&NOh|YS 市场图片 %9M; MK v,vTRrpK
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