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摘要 |~mq+:44+ S0.
Id8^6FLw Hbogi1!al| 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 3md yY\+& xLht6%o* 任务说明 oQJK}9QR j^A0[:2
e6s-; 1g`$[wp| 多重光源 YpQ/ )fSEV 2!QS&i :b+C<Bp64r #5HJW[9 螺旋相位板 $I(2}u?1+d 9:0JWW^so
<qH>[\ Qxj &IX 探测器插件 EgIFi{q=0 -L7Q,"a$
fd >t9. @DK,ka( 参数运行 >O[# 661 :w_J/k5Zd
=!3G ,qV e#`wshtN: 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: GRz`fO N>;"r]Rl" Usage of the Parameter Run Document nIVPh99 #p~tkQ:'1 非时序建模 W&`_cGoP l= 5kd.{
?}^e,.M0?s ]dk44,EL 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 =g'7 xA V/i&8UMw Channel Setting for Non-Sequential Tracing s$xctIbm?, $oK,&_ 总结 – 组件… }8 A] 7]a6dMh
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@V)k*h3r+ Vea>T^ 系统观感 hBDPz1< j eMh
(A`/3Aq+ 8^ju= Fc>W]1 发射&损耗激光 y|V/xm+Fp 4VLrl8$K
R^P~iAO <jU[&~p 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 m *8[I ,eD@)K_: 7~TE=t 3D STED 轮廓 Q(gu";& yNdtq\h
pgT{#[=> q{Hk27kt 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 "XMTj <D X4*{CM 受激发射损耗效应 P:t|'t ":?>6'*1 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ohusL9D x- ) D@dw<
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34U/"+|z ^#e:q 文件信息 K)$.0S9d 7qA);N
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'~ zAt!jP0E 进一步阅读 cqr!* • Simulation of Multiple Light Source in VLF ^*'|(Cv • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 9I=J#Hi|+ hJ#U;GL 市场图片 Sj(uc# )ruC_)
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