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摘要 oo2d, ;J TY#)Bh
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}?.3,? 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 $7DW-TA {~&Q"8
}G 任务说明 ;]Q6K9.d8 ll4CF}k
2<I=xWwFA Rh|9F yN 多重光源 j\~,Gtn>Z C&H'?0Y@ 0LH6G[ .cQO?UKK 螺旋相位板 e~zgH\` aF^NYe
b;UDgq8v oH%[8!# 探测器插件 ,GYQ,9: 6d6cZGS[:
oC>J{z [M~tH *4" 参数运行 rN}8~j 3PU_STSix
EwN{| 34C &=kv69v 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 196a~xNV pvyEs|f=% Usage of the Parameter Run Document e6j1Fa9 `/>kN% 非时序建模 %T]^,y$n t!qLgJ5%y
Mi8)r_l%O R#4l" 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 rV%T+!n%c )xV37] Channel Setting for Non-Sequential Tracing <N= k&\ Fk/I
(Q 总结 – 组件… w!20 kx;X:I(5&P
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+zMPkbP6 |z=`Ur@) 系统观感 J#Hh4Kc JfN5#+_i
CXuD%H]tx [G|. uxU-N 发射&损耗激光 [_)`G*X(N hD
~/ywS&
xO )c23Z)] hI86WP9* 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 ;pW8a? nd8<*ru$ DPzW,aIgv 3D STED 轮廓 4@-tT;$ )-3~^Y#r_
:.*Q@X}-I 7y|U!r"Y 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 p2gdAJ 9<_hb1' 受激发射损耗效应 m|
,Tk:xH dP8qP_77A~ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 kzZgNv#G; PK:Lv15"r
'0+I' _( Zmyq6.1q~ VirtualLab Fusion 技术 =Q_1Mr4O ':4<[Vk
:b44LXKCP l[T-Ak 文件信息 E'f7=ChNF U7x
@GKDSS4jv pWRdI_ 进一步阅读 7#E/Q~]'6 • Simulation of Multiple Light Source in VLF 4@0aN6Os • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy |D)CAQn, *LB-V%{|' 市场图片 |M7C=z=' ,"`20.Lv
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