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摘要 l_x>.' a \)PS&Y8n
dRTpGz H/ub=,Ej* 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 [92bGR{ J1Y3>40 任务说明 ,-BZsZ0~ _j<,qi
<7X+-%yb; D7$xY\0r 多重光源 Zn'y"@%t[ x[%% )[d `RE1q)o}8M &S#bLE 螺旋相位板 Q1'D*F4 g/,O51f'
wT\dzp>/ yDw^xGws 探测器插件 _d<\@Tkw 1'* {VmM
bRAf!<3 wmPpE_{ 参数运行 ?Qs>L~ \'N|1!EO|t
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> 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 6UJBE<ntj -OP5v8c
f Usage of the Parameter Run Document %u|qAF2uS 8|,-P=%t 非时序建模 :hxZ2O?5_ x9CI>l
QfM*K.7Sl (.3L'+F 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 x]U (EX`t$ & ~[%N
O Channel Setting for Non-Sequential Tracing ]j:Ikb} X]*W + 总结 – 组件… `o*g2fW! Qs{Qg<}
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_mL 9G5~r Z_Ma|V?6 系统观感 {1YT a:evl D 2Go,1
z:R2Wksg &f qmO>M _.06^5o 发射&损耗激光 fhn0^Qc"+ o6KBJx
FZmYv%J hOMFDfhU 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 C 127he k*c:%vC! 1,`x1dcO!A 3D STED 轮廓 @#H{nj
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3]Lk}0atpL 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 *Ucyxpu~$ O x$|ZEh 受激发射损耗效应 O\KAvoQ%s FvI`S> 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 lE|T'?/ }\DQxHG
v,i:vT\~ nLfnikw& VirtualLab Fusion 技术 YJ16vb9 '/
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-6tF Yg]f2ke 文件信息 >6DY3\ QT&{M
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ycAQPz}=I 8rpN2M3h 进一步阅读 VDmd+bvJV • Simulation of Multiple Light Source in VLF
B-gr2- • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy S~Hj.
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