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摘要 r^mP'# ty|E[Ez1
wuCiO;w LMf_wsp 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 QCFLi n+r JzJS?ZF 任务说明 %O`e!p CpuL[|51
4=S.U`t7 5:%xuJD 多重光源 cF9bSY_Eh )UA};Fus &13qlc6 -t_t3aU| 螺旋相位板 Vu '3%~ (+d7cln
5t`< KRz)I ]a)o@FI 探测器插件 XBE+O7 ld8 E!t[
}{Ab:+aNd ?El8:zt? | 参数运行 g5X;]%: m?DI]sIv#
/E F0~iy >58N P1[k 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 68
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V>V F+mn d,3 Usage of the Parameter Run Document 9MQ!5Zn E|OB9BOS 非时序建模 1zwk0={x-% v#1}(
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YqhZndktX dWbSrl 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 (_h<<`@B DPCB=2E Channel Setting for Non-Sequential Tracing J jRz<T; qPeaSv]W 总结 – 组件… \ vj<9ke& -`nQa$N-
.{[+d3+, (}ObX!,
.)L%ANf "mlVs/nsyG 系统观感 &)[?D< ~d]X@(G&
32nB9[l S B2R \1Tu
P}P 发射&损耗激光 Dv~W!T i [B<htD&
-D*,*L g\_J 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 WzD=Ol nn[OC=cDN m)"gj**|y 3D STED 轮廓 {m%]`0 X{cFqW7
D d['e (QS4<J" 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 .[mI9dc 8@b,>l$ 受激发射损耗效应 @JB9qT O5X@'.#rU 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 F|mppY'<J 'W'['TV
N_jpCCG~ P){b"`f VirtualLab Fusion 技术 ^j~CYzmt '" MT$MrT
R( 2,1f=d vndD#/lXq 文件信息 py\KY R 3|++2Z{},
>|j8j:S[ vs=8x\W 进一步阅读 ~9Xs=S! • Simulation of Multiple Light Source in VLF w3hG\2)[HS • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy b}&2j3-n, LDX>S*cL 市场图片 "XKcbdr8- su2|x
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