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摘要 \r{wNqyv L>WxAeyu1K
62.Cq!~ *sB'D+-/ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 @gf <%> HA}q.L]# 任务说明 L[Y$ `e{zd {2 T:4i5
K%/\XnCY >0 o[@gJl 多重光源 <6hs<qXqi Yc~l Yz+b 2sG1Hox | a
i#rU 螺旋相位板 }uaFmXy3 =s'H o
3xP<J)S0 l& sEdEA 探测器插件 ;QCGl$8A Lp }V 94xT
B>d49(jy b%@9j; 参数运行 TPkP5w 2Q%M2Ua
[4B(rra Nknd8 >Hy+ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: glM42s r]QeP{ Usage of the Parameter Run Document v1}ijls =Ov,7<8o 非时序建模 eW3?3l`fvt SbMRrWy
"la0@/n k`[>Bk%b 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 wkPomTO XPt>klf Channel Setting for Non-Sequential Tracing ^Df qc-] D( TfW 总结 – 组件… 0N4ZV}s,d ~fcC+"7q/
MOB'rPIUI "?
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gr.G']9lNq rXTdhw?+ 系统观感 @RoU TOSk+2P
wu{%gtx/;^ Qch'C0u 69uDc 发射&损耗激光 #Ak9f-pf |r+hj<K
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\ hA&m G33 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 YCzH@94QeV ~ \u>jel ^$oEM0h 3D STED 轮廓 9v
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V!+< f!GFRMM1 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 LT,zk)5 P$clSJW 受激发射损耗效应 1O)m(0tb[ 76c:*bZ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 'q8:1i9\[ Y~lOkH[z
@_WZZ .)FFl VirtualLab Fusion 技术 !@+4&B= #xhl@=W;
y{tM| iy_3#x5> 文件信息 uBM%E OE su8()]|0x
1x+w|h '^2bC 进一步阅读 W7 T2j+] • Simulation of Multiple Light Source in VLF `<R^ZL, • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy i(q a'* akgvV~5 市场图片 SvQj'5~< "!Hm.^1
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