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摘要 'XW[uK]w) :Y? L*
qY,z,oAF {u !Q=D$3 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。
Zl,c+/ 7
s+j) 任务说明 #Z;6f{yWf 8H2zMIB
I+JWDYk ku2gFO 多重光源 q%H`/~AYM TcB^Sctf N5W;Zx] /"~ D(bw0= 螺旋相位板 1zo0/<dk ^3>Qf
rw CFt6;v Qu 7#^%= 探测器插件 $O\I9CGr$ p#14
qcN{p7=0 g>k"R4 参数运行 :ik$@5wp gK&MdF*
[G.4S5FX.] +jpaBr-O# 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: CsJ38]=Mt i|`b2msvd Usage of the Parameter Run Document D\~s$.6B +&AKDVmx 非时序建模 [{s 1=c Vki'pAN
sObH#/l` n jfh4}g: 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 /KL;%:7 {c
82bFiv Channel Setting for Non-Sequential Tracing FWi c/7 4=;.< 总结 – 组件… ^[UWG^d M-#OPj*
\>B$x@-wg |3Fo4K%+
$A4rdhvd =)h<" 2 系统观感 qcNu9Ih s!lLdR[g
/]xu=q2 |*G$ilu 9EPE.+ns 发射&损耗激光 fX:)mLnO/ RFsd/K; Zp
n;Nr[hI 4t C-msTf 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 $ 8"we t)#dR._q \2UtT@3|C 3D STED 轮廓 a&sVcsX #!A'6SgbkM
f *Xum[ ^#6"d+lp 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Lip(r3 {Df97n%h; 受激发射损耗效应 -\6";_Y BLepCF38 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 \d"uR@$3mG F!>92H~3G
g6s&nH`Z2 !=)R+g6b VirtualLab Fusion 技术 _f"HUKGN s8r|48I#;
d`XC._%^J n+sV$*wvS 文件信息 A:-M RhE9X v+), uj
TO,XN\{y 1WTDF 进一步阅读 `Kt]i5[ " • Simulation of Multiple Light Source in VLF slQxz;t • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy ""Ub^:ucD _mEW]9Sp 市场图片 n?UFFi+a D2,2Yy5y
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