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摘要 =6BI[_0 fa,;Sw
JB HnJm B|S X?X 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 BXr._y, cr \8`^QgV`@ 任务说明 ]CgZt'h{ aq8mD^j -&
`7'=~BP?X WiFZY*iu5 多重光源 Rr>"" kaV Ye)~ K555z+,'e /P*ph0S- 螺旋相位板 >Yfo $S_ sE0,b
4<U6jB5 PAu/iqCH 探测器插件 K_V$ ktL /7C%m:
42 Sk` e3kdIOu5 参数运行 x2+M0 }g G[!<mh4h|
_x?S0R1 dZ\T@9+j+ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: YHr<`Q</ :#UN^ "(m} Usage of the Parameter Run Document JDB Ni+t K|.!)L 非时序建模 \fL:Ie
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G)\6W#de4 m`/!7wQs 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 SMh[7lU` YQ5d!a. Channel Setting for Non-Sequential Tracing fhe%5#3 k!m9
l1x 总结 – 组件… <(caY37o6) +#ANc;2g
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L@6T~ c (0Ez@ 系统观感 Z6oA>D +4k7ti1Qb
z=VL|Du1OT WhR'MkfL 44cy_ 发射&损耗激光 X !l#1 R8R,!3 N
T13Jn o x)o`w"]al 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 /<oBgFMoJ CT#N9 d<4q%y'X{ 3D STED 轮廓 KmRxbf :[7.YQ
L\X2Olfz1 ziui 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 SiSxym kc70HrG 受激发射损耗效应 7 {#^zr 5R7DD 5c[ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 "+J[7p}`@ $WK~|+"{>
=qVD"Z]z dzZ75 VirtualLab Fusion 技术 rui]_Fn]I Se
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| WMq&-$D VtD:'L- 文件信息 5A=FEg xu7Q^F#u
Gfn?1Kt{ 4I^8f||b_ 进一步阅读 A&6qt • Simulation of Multiple Light Source in VLF }~`l!ApD • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy h*\/{$y ZJ|'$=lR 市场图片 " tUF,G(< IQ"9#{o
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