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摘要 %i@Jw yT h60U
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hCr 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 o_?A^u 54%h)dLDy 任务说明 *7K)J8kq gF&HJF 0x
H~~>ut6` e`;U9Z 多重光源 U_AmRiy #RP7?yGM, y5N,~@$r xB,(!0{` 螺旋相位板 =QW:},sp rNeSg=j
.h\[7r $GX9-^og=T 探测器插件 W(jP??up CChCxB
*Zz hN]1 ){"-J&@? 参数运行 ~4u[\&Sh @H|3e@5([
9pq-"?vHY0 jmva0K},SE 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: v9l|MI15V (zhi/>suG Usage of the Parameter Run Document |v= */e 'L ]k\GO 非时序建模 2qDVAq^@ I2*\J)|f
0uS6F8x@ OM#eJ,MH<) 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 H]&^>Pvh ~\[\S!" Channel Setting for Non-Sequential Tracing fz`\-"f] hV[= 总结 – 组件… jHBP:c 8B|B[,`
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p|VgtQ/)% Hy#<fKz`! 系统观感 WcKL=Z?( o 9{~F`{p
~"i4"Op& ^y3snuLtE /|aD,JVN" 发射&损耗激光 AJR`ohh T`SpIdzB.
,|Lf6k xGo,x+U* 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 z*OQ4_ ,-_\Y hY> Nt
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@ 3D STED 轮廓 Nm, 9xq [5$Y>Tr!
aW7)}"j4 }pL#C 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 tU, >EbwO GN@(!V#/4 受激发射损耗效应 I-o|~ iBy
^ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 Mh*^@_h? Y+e a
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T{Y;-m Cz]NSG 5 进一步阅读 `w/`qG:dK • Simulation of Multiple Light Source in VLF WwYy[3U • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy :;u?TFCRx kPg| o3H 市场图片 3CArUP L>1i~c&V
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