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摘要 OG0ro(|dI (gz|6N
_)lK.5 6VRVk7" 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 2Ask] k5W5 9tz 任务说明 3vDV
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VM|8HR7U Q"%L 多重光源 OpYq qBf_ dDAdZxd 61CNEzQ !i{@B 螺旋相位板
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UI |D?z< h|_G2p^J+" 探测器插件 e(j"u;= lYU_uFOs\
2x'JR yef ptYQP^6S[ 参数运行 L2AZ0E"ub [96|xe\s
"!r7t4 zaR~ fO 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: [BmondOx G`gYwgU; Usage of the Parameter Run Document XW`&1qx V<P@hAAr 非时序建模 qDOx5.d v:<u0B-)$
UP%X` Va?wG3 w 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 8V.x%T G,$RsP Channel Setting for Non-Sequential Tracing B3e{'14 P#"vlNa 总结 – 组件… F6YMcdU /tx_I(6F?|
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ppfBfMX =@&]PYv 系统观感 3>/Yku)t (N0G[(>
`QAotSO+ "P'W@ $ v$~. 发射&损耗激光 ;g7nG{ 1/JgirVA
jats)!: Mryi6X T 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 {BDp`uZ { ~FYiX r4D6g>)h1q 3D STED 轮廓 @va)j jW"C: {Ol;
qP *$wKY, f4CwyL6ur 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 VO/"
ot dGTAZ(1W 受激发射损耗效应 n"-cX) Hq< Vk.Nk 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 Ri"3o ]7fqVOiOu
N@)tU;U3O %)?$82=2 VirtualLab Fusion 技术 83Bp_K2\ ;HgV(d#X
O. V!L ^t?P32GJ 文件信息 tA Pqbi$a a<rk'4,8a
f'TdYG b-;+&Rb 进一步阅读 X-e)w • Simulation of Multiple Light Source in VLF ccZ A • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy -_4U+Cfmtl {xMY2I++ 市场图片 d {T3 k#w[GL|T
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