摘要 -e]7n*}H$ -{jdn%Y7CK 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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*[Q\ 系统设置 Mps5Vv L.'}e{ldW 
1iBP,:>* h6D^G5i 非序列追迹 "TOa=Tt{,
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vVxD!EL G }nO@ 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
r 2: 2,5_ gm"#:< ) 非序列追迹的通道设置 f 2YLk
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23]Y<->Eu< z@ 35NZn 受抑全内反射（FTIR） (5Nv8H8|
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(?V&;_ ti @kKz 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
jeUUa-zR3 p 9eRZVy/ 分层的介质成分 3L5r*fa e^1uVN 
<n"C, ~ 5"JzT 层矩阵求解器 G4 _, |I;$M;'r& 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
:mcYZPX# 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
=n(3o$r( 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
C#0Qd% 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
s#9Ui#[=h 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
, E )|y4 ?/hZb"6W 
8hanzwoJ: {-/^QX]6 更多相关信息：
E0n6$5Uc? 层矩阵[S-矩阵] O[@ q%&_ yY).mxRN 系统概述 (光线结果概述：3D系统) k(VB+k"3 s@4nWe 
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#wyeX Hh;:`;}
间隙厚度分析 Gbpw5n; e
rh*sbZ68>E
W#fZ1E6 y]
oaO+ 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
OHr Y(I6 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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