摘要 cNG`-+U' \:Z8" ~G 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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K)= / TAza9a 系统设置 I!u fw \[ It8s#o q8 
LPS]TG\ [;$9s=:[ 非序列追迹 cL^r^kL("
D[Kq`
V!zU4!@qP 3) 3$ L 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
{O5(O oDa c3!YA"5 非序列追迹的通道设置 b>'y[P!
@ayrI]m#>,
#sb@)Q d_ )VeuE2 受抑全内反射（FTIR） 2+}hsGnp
Q+zy\T
fa 2hQJ02 >"<<hjKJ 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
?vg|; Q -^WW7 g` 分层的介质成分 ]^v*2!_( sG:tyvln 
>{ .|Ng4K YjzGF=g# 层矩阵求解器 N(Xg#m n7iIY4gZ 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
{"hyr/SK d 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
p&W{g $D> 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
?h3t"9 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
qV:TuR-|w 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
2'7)D}p 2W6t0MgZ 
)5Ofr-Y !f)^z9QX8 更多相关信息：
68nB c~iAm 层矩阵[S-矩阵] @0fiui_ _)-y& 系统概述 (光线结果概述：3D系统) Tw@:sWC g%%j"Cz1 
OHK]=DH:M M BO>.M$B 间隙厚度分析 fB`7f
$[
lzK,VZ=mM
*s (L!+ %]fi;Z 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
]ud H`{] 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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