摘要 v H HgZ @gP*z6Z 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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+`>7cy%cZ > .wZEQ6QK 系统设置 BK!Yl\I < bm# 5bhX\| 
!oz{XWE J4qk^1m. 非序列追迹 7-S ?RU]g
<K)] kf
uEgR>X> eU"yF >6 ' 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
S_7]_GQ9 l,|Llb 非序列追迹的通道设置 4X=VNORlU0
Gamn,c9
*~8F.c x "kApGNB 受抑全内反射（FTIR） rxp|[>O<
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9~V'Wev -mJs0E*g 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
"dpjxH=xO i[z 2'tx4 分层的介质成分 I[E 6 N2 )?{<Tt@ 
`n>/MY W B:0}b0Gu 层矩阵求解器 NVzo)C8kb z$&B7? 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
0Y oKSo 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
[P}Bq6;p 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
CD J@Tdp 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
B~:yM1f@u4 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
bqn(5)% { e"866vc, 
hP:>!KJ $z!G%PO1% 更多相关信息：
{/noYB<; 层矩阵[S-矩阵] ]v<8 l4p; >FE8CH!W& 系统概述 (光线结果概述：3D系统) C2<TR PT ^mC~<p P( 
8YZ9 o?ug`m" 间隙厚度分析 B2r[oT R
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p7\LLJ y xn, u$@F 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
!v2/sq$G 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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