摘要 /7bw: h; Fse['O~ 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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Vo%Yf9C xw ?CMA 系统设置 zK=dzoy o]A XT8 
5^yG2&># (vKI1^, 非序列追迹 E *B Sfn&i
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{VR`; yz ?q(] 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
80 Ag L[rpb.'FG 非序列追迹的通道设置 Ls]@icH0
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G*B$%?n W6vf=I@f 受抑全内反射（FTIR） )R~aA#<>
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1] j^d \<ZLoy_ 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
m%pBXXfGYj }qAVN 分层的介质成分 `fz,Lh*v y m\(PCa5` 
RX'-9 9 M ),=@q+{E{ 层矩阵求解器 oU8>Llt=$ JkU1daTe 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
{ b1UX9y 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
& 1_U1 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
nd:E9: 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
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这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
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4O(@'#LLz =NZ[${7mq 更多相关信息：
!2$ z *C2; 层矩阵[S-矩阵] dx@QWTNE Cp^g'& 系统概述 (光线结果概述：3D系统) P?
(vW&B H8f]} 
%H& ].47 \0ov[T N.> 间隙厚度分析 ^P?vkO"pB?
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B_ k2u b{M}5~e=B 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
X\\7$ 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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