切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 125阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6107
    光币
    24688
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-15
    摘要 |bk*Lgkzw  
    76m[o  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    r~TT c)2  
    >&VL2xLy  
    V#~. Jg7  
    7I|%GA_  
    建模任务 jz)H?UuDY  
    DHAWUS6  
    TU/J]'))C  
    (TE2t7ab|M  
    B'Wky>5)  
    准直系统 _x!pM j(A  
    WdT|xf.Q&  
    Zx_m?C_2_  
    {ZcZ\Q;6  
    序列追迹 q :bKT#\  
    ^6+x0[13  
    4(R2V]  
    x3Ud0[(  
    总结—元件 %gaKnT(|r  
    \p$0  
    $c}0L0  
    "" U_|JH-  
    |$PLZ,  
    b5DrwX{Ff  
    系统光线追迹结果 K288&D|1WU  
    ! Cl/=0$[L  
    V%ch'  
    h uJqqC  
    完美的减反射(AR)涂层 .N=hA  
    />C~a]}  
    L|X5Ru  
    Z=0W@_s  
    有内部反射 R~~rqvLm  
    rg,63r  
    uNbA>*c4M  
     
    分享到