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摘要 :zIB3nT^ 7/]Ra 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ZBK)rmhMx S{XO3 Iza#v0 USgO`l\}4 建模任务 ZZ}HgPZ 'T|QG@q }#Ji"e
1'&HmBfcb %Y.@AiViz 准直系统 YuO!Y9iEm y9i+EV o<s~455m/ .db:mSrL 非序列追迹 1,P2}mYv W`#E[g?]
{^:i}4ZRl W^,p2 总结—元件… _!Z}HCk P|f h4b4 $Vs5d=B %gqu7}'
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SJ ucLh|}jJ5 系统光线追迹结果 D_z&G) :Ef$[_S> 0x,4H30t( .zW.IM}Z 完美的减反射(AR)涂层 maQDD* U6nC
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