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摘要 +[P{&\d4} M3AXe]<eC1 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 g&.=2uP 0IpmRH/ n`KY9[0U= #;<Y[hR{P 建模任务 OJxl<Q=z 9FX-1,Jx < vP=zk
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n ;Xw~D_uv 非序列追迹 54/=G(F =Sv/IXX\di
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v2?ZQeHr_( Xeajxcop# 系统光线追迹结果 ww/Uzv 6nQq *](iS he4(hX^ 完美的减反射(AR)涂层 $u.z*b_yy 1"g<0
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