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摘要 Fo\* Cr9D (R^X3 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 >Pa&f20Hp _Sa7+d( t!^ j0 q WBc ,/lgZ 建模任务 hb@,fgo!Q W}^X;f %DOV)Qc2
g"b{M T$w`=7 准直系统 {v3?.a$u #R^^XG`1 E~]37!,\\9 Lt'FA 非序列追迹 [%?ViKW mf4C68DI@u
p;nRxi7' BOc2<M/\ 总结—元件… 7LotN6H
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yyZs[5Q |FED< 系统光线追迹结果 rJz`v/:|P r2b_$ uv#."_Va =&8 Cg 完美的减反射(AR)涂层 Kg8n3pLAX 8%\0v?a5 NC@L,)F :<QmG3F 有内部反射 H;DCkVL yq6Gyoi<
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