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摘要 |bk*Lgkzw 76m[o 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 r~TT c)2 >&VL2xLy V#~.Jg7 7I|%GA_ 建模任务 jz)H?UuDY DHAWUS6 TU/J]'))C
(TE2t7ab|M B'Wky>5) 准直系统 _x!pMj(A WdT|xf.Q& Zx_m?C_2_ {ZcZ\Q;6 非序列追迹 q
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|$PLZ, b5DrwX{Ff 系统光线追迹结果 K288&D|1WU ! Cl/=0$[L V%ch' h uJqqC 完美的减反射(AR)涂层 .N=hA />C~a]} L|X5Ru Z=0W@_s 有内部反射 R~~rqvLm rg,63r
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