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摘要 VcL Jzj~uz 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Z`!pU"O9l INT2i8oU h=tY 5]8 >fdN`W}M 建模任务 Ue7W&N^E 'GyPl -I*A `M
+Oscy-; ?|/}~nj7 准直系统 7l p VK] = V , _ pWp2{G^XB {3Rax5Ty 非序列追迹 vqHJc2yYkZ izw}25SW
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.R'i=D`Pz D^{:UbN 系统光线追迹结果 SMFW]I2T/ 1sJN^BvuG NZuFxJ-` Y<+4>Eh 完美的减反射(AR)涂层 ~}AP@t* o~K 2K5I :I('xVNPz ss<'g@R 有内部反射 h"ylpv+ }}_uN-m
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