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摘要 OY`B{jV- JyMk @Y 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Xh;.T=/E| El<*) fx_#3=bXi 3 2\.-v 建模任务 Dd5
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@=VxWU ~U&NY7.@ 准直系统 b]4dmc*N+ M@A3+v%K JkAM:,^( .Az36wD 非序列追迹 U8Y%rFh1 yQ[;y~W
"17)`Yf tbRW6 总结—元件… {]R'U/ +H2Jhgi |NfFe*q0;8 QF"7.~~2
sW]^YT>? >S +} 系统光线追迹结果 FbE/x$;~O u<BU4c/p a+^`+p/5 iNA3Y 完美的减反射(AR)涂层 YO7U}6wBt jfxNV2[ K|7"YNohfG 4qOzjEQ 有内部反射 >j5\J_(;D R{#< NE
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