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摘要 =$BgIt YuPgsJ[m 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Ujj2A^ wc__g8?' $yCj80m\ jjl4A}*0 建模任务 HHEFX9u `fc*/D @1n
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2 准直系统 Brpin l0Pg`wH, DMs|Q$XB *Z/B\nb 非序列追迹 *VRFs= F=P|vYL&&
#Wc)wL-Tg b<5:7C9z 总结—元件… )Fm '!f5|l9SC `H+Eo<U 4G`YZZQ
>nr1|2 HPpnw]_ 系统光线追迹结果 ]e"NJkcm R2~Rqlti r`7`f xe gJF;yW4 完美的减反射(AR)涂层 l0@$]76cX; CWDo_g$ %%k[TO ,bH 有内部反射 )m)>k` 0 OdR
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