-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-07-30
- 在线时间1819小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 <M=';h^w2 I-TlrW=t 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 L -YNz0A {|Bd?U; 0Lx3]"v mLQUcYfR 建模任务 h+5@I%WX }Iip+URG |J\,F.{'
$Vsy%gA< J,9%%S8/C 准直系统 X'jr|s^s moaodmt]x - {0g#G *CzCUu:%t 非序列追迹 C>NQ-w^ 0_Lm#fE U
j!7Qw 8 [#>{4qY2 总结—元件… >GmN~"iJ t GC2
^a#~ )Y~xIj> %Sul4: D#
'd+:D' y)tYSTJK 系统光线追迹结果 [t$4Tdd [1Uz_HY["3 $M39 #a (U _wp's 完美的减反射(AR)涂层 puA|NT 4j{oaey r,Ds[s)B %2}C'MqS 有内部反射 \1]rlzXGUT y~dB5/
h07eEg
|