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摘要 tOx)t$ix 6?an._ C 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 E! '|FJ IbFS8 *a\ ZzZy2.7 *3;H6 建模任务 ^m^4LDt $n |)M+d CmyCne
j9FG)0 V^9c:!aI 准直系统 5U[m]W=B "`l8*]z 8G&'ED_& hS<lUG!9UJ 非序列追迹 1D3{\v ]3B8D<p
no6q3<re n#F:(MSOp 总结—元件… T0=8 U;
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'Em5AA`> %ZT@& 系统光线追迹结果 |Nx7jGd:i KxZup\\:v ~.-o* "UUzLa_ 完美的减反射(AR)涂层 $\:;N]Cs~0 ces|HPBa&6 -_<rmR[:] g<ZB9;FX % 有内部反射 KmUH([# {ek axSR
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