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摘要 %kRQ9I". /)Pf ] 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 97%S{_2m/ x&SG gl mDT"%I"4j `X06JTqf: 建模任务 mrgieb% 1>BY:xZr =83FCq"
_Bp{~-fO TZ2-%k# 准直系统 )@O80uOFh uGxh}'& u\9t+wi}< 6ofi8(n[ 非序列追迹 NQx`u"= O_u2V'jy9
HoIK^t~VT# ph;ds+b 总结—元件… ~x:B@Ow y p}a&Dg #:yh2y7a% N^{"k,vB-
QX]~|?q ,'E+f% 系统光线追迹结果 ]26
Q*.1~ ,W!v0*uxp& 2Bf]#l{z ?%RN? O( 完美的减反射(AR)涂层 *C(/2 $i^#KZ}-WK {b<;?Du s^ 9F&s9(=\ 有内部反射 rX-V0 gg-4ce/
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