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摘要 rADzJ#CU\ rL+.3ZO):P 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Kf$(7FT'` Pn@DHYP N6+^}2'*) [Ne'2z 建模任务 /S~ =qodS FK-q-PKO#. ,BGUIu6
;9 ChBA 8uW%jG3/ 准直系统 tgl 4pAc S^EAE] CS-jDok B~&}Mv 非序列追迹 >mEfd=p MI:%Eq
II~91IEk <1*\ ~CX 总结—元件… Q^05n$ tI 1_c%p#?K 4Xt`L"f /<k5"C%z
U:c0s ^si[L52BZ 系统光线追迹结果 kFyp;=d:K utC^wA5U~ [>3dhj[; 3kF+wifsz 完美的减反射(AR)涂层 \M0's& |