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摘要 @4G{L8Q} f cnv[B..{ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 $MqEM~^= ?{L5=X@$$ {4 {X`$ \
[bJ@f*." 建模任务 L"RE[" m 1}R\L" {ub'
3/y"kl:<- !Qq~lAJO; 准直系统 ;#L]7ZY9:- =6a=`3r!I &D91bT+L 40aD\S> 非序列追迹 E|3[$?=R &r+!rL Kp
'w0?- uuQsK. S 总结—元件… ):\+%v^ t>P[Yld" woa|h"T :w]NN\
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系统光线追迹结果 #y'p4Xf ~l('ly ?rY+,nQP @"B{k%+ 完美的减反射(AR)涂层 Wr@q+Whq 0v#p4@Z FE1'MUT_ =QIu3%& 有内部反射 cSjX/%*!m <sn,X0W
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