切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 38阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5834
    光币
    23323
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 昨天 07:54
    摘要 }vspjplk^  
    f%JC;Y  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    #CYDh8X<i  
    l1MVC@'pvP  
     Q  
    /Xo8 kC  
    建模任务 ">D7wX,.>  
    %}0B7_6B+@  
    1w/Ur'8we  
    Ccx1#^`  
    2qkZ B0[  
    准直系统 @ky<5r*JU(  
    Fo@cz"%  
    02F[4c~  
    T_=iJ: Q  
    序列追迹 M)v4>Rw+  
    1YxG<K]  
    a][QY1E@?  
    \8e27#PJR  
    总结—元件 H:jx_  
    +'f+0T\)  
    H$o=kQN  
    5B76D12  
    ,2C{X+t  
    q+}KAk|]V  
    系统光线追迹结果 $VRVM Y [q  
    OqcM3#  
    ejjL>'G/|%  
    Z2cumx(  
    完美的减反射(AR)涂层 |{en) {:  
    mtunD;_Dek  
    rrL gBeQa  
    Tb@r@j:V  
    有内部反射 `HO_t ek  
    t6JM%  
    ].e4a;pt  
     
    分享到