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摘要 8Rd*`]@[pk 7Ezy-x2h 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ~cW,B}
bjB4 "']|o ~B s92SN F}g 建模任务 7eQc14 pcO0xrI o_on/{qz
VgcLG ]tE[ vjO@"2YEw 准直系统 (z.eXo P@> okQ<_1e{ 05/'qf7P,U cP`[/5R 非序列追迹 NVq3h\[X I?Ct@yxhF'
}(Dt,F` &WoS(^ 总结—元件… -)$5[jM] ^*_|26 }J|Pd3Q Sf xHi.N*~D
"P@oO,. SH/^qDT' 系统光线追迹结果 fFJu] oS Apa S_dM{.!Z(, M
Qlx&.> 完美的减反射(AR)涂层 D:vX/mf;7 OVa38Aucr3 TjLW<D(i> 1CpIK$/ 有内部反射 ~Rk~Zn w4(g]9^Q
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