切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 418阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6975
    光币
    29025
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-05-15
    摘要 Az U|p  
    D^,\cZbY  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    D3%l4.h  
    pNp^q/- yB  
    `]K,'i{R  
    RI (=HzB  
    建模任务 YO)')&  
    gWFL  
    rW:iBq  
    `6rrXU6|  
    uyL72($  
    准直系统  LsQs:O  
    LkaG8#m1R  
    M'^(3#ZU  
    ;US83%*  
    序列追迹 ;xSRwSNDi(  
    ]|,vCKju  
    +``>,O6  
    Lb!r(o>8Cb  
    总结—元件 PPN q:,  
    /ca(a\@R  
    DeA@0HOxh  
    --Oprl  
    PM@XtL7J  
    jUYF.K&  
    系统光线追迹结果 =Wj{]&`  
    ;JYoW{2  
    2.]~*7   
    ?;Un#6b  
    完美的减反射(AR)涂层 H]BAW *}  
    w .tW=z5  
    PDhWFF  
    658\#x8|  
    有内部反射 :H{Bb{B%  
    $>;a 'f~  
    3a%xn4P  
     
    分享到