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摘要 %'D:bi5 t0AqGrn 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 "cz]bCr8 Hi4@!] %l]rQjV- h>`'\qy 建模任务 7p"~:1hU !A ydhe
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<}x|@u ,:Rq 准直系统 Y;I(6`,Y O}\"$n> -$!Pf$l@ %]= 'Uv^x 非序列追迹 3vvFF]D5k +XaO?F[c
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[ [7Kj$PB3 总结—元件… (/rIodHJO #D*J5k>2 e[VJ0 A= :O@,Z_"
;r@R (Squ 3Jk?)Dy 系统光线追迹结果 BX)cV dQ2i{A"BKz iTBhLg, 4@V <Suw 完美的减反射(AR)涂层 YaE['a <xh'@592 0T{Y_IG Zv7$epDUz 有内部反射 kHIQ/\3?Q :92a34
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