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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 f4A;v|5_  
     32y GIRV  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ;pk4Voo$  
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    1. 案例 '@4M yg* b  
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      K%NNw7\A  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 Z>=IP-,>  
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    1. 系统构建模块 +tsF.Is!t  
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    2. 组件连接器 UC3&:aQ!  
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          L{;Sc_  
    几何光学仿真 E P1f6ps  
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    以光线追迹 9o)sSaTx=  
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    1. 结果：光线追迹 9f UD68Nob  
    G$#Q:]N  
    @bPR"j5D  
          Jo%`N#jG   
    快速物理光学仿真 %S$P<nKN5  
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    以场追迹 TcW-pY<N  
     qp#Is{=m  
    1. NA=1.4时的光栅成像 Uc>kiWW  
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    ibzcO,c  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 b/#SkxW#S  
       _*&I[%I5  
    .>QzM>zO  
    8'K~+L=}  
    3. NA=0.5时的光栅成像 j-~x==c-;  
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    EY$Dtb+g8  
     
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