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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 INca  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ~udi=J |  
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    1. 案例 SKTf=rY  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 oj.f uJD  
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    1. 系统构建模块 Rv9oK-S  
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    2. 组件连接器 <0my,hAK  
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    几何光学仿真 an+`>}]F  
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    以光线追迹 MCN}p i  
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    1. 结果：光线追迹 v-`RX;8  
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          U 00}jH  
    快速物理光学仿真 N?`-$C ]  
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    以场追迹 YVy+1q[  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 v=4,k G  
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     Sp+ zP-3  
    c`]_Q1'30w  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 (<f`}, QxD  
       b/N+X}VMN  
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    `9;:mR $  
    3. NA=0.5时的光栅成像 sdq8wn  
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    JTuU}nm+  
     
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