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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 P! +Gwm{  
     a*5KUj6/TL  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 I:TbZ*vi~  
    aG }oI!  
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    1. 案例 n\((#<&  
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     IQO|)53)  
      dBd7#V:}yV  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 4}m9,  
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    1. 系统构建模块 6U !P8q  
    DSwb8q  
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    2. 组件连接器 ({j8|{)+  
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          W\zZ&*8$  
    几何光学仿真 P'qBqx[  
     jV}8VK*`+  
    以光线追迹 wvq4 P  
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    1. 结果：光线追迹 Z|E9}Il]  
    v>wN O  
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          !4afU:  
    快速物理光学仿真 %N-aLw\  
     &qS%~h%2  
    以场追迹 MG vz-E1e  
     |;US)B8}*Z  
    1. NA=1.4时的光栅成像 u"qVT9C$=  
     J| N 6r  
     J1}\H$*X  
     c`xNTr01  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 F~6]II  
       *,Bm:F<m  
    m&gd<rt/  
    j<~Wp$\i7>  
    3. NA=0.5时的光栅成像 f/J/tt  
       Ge`7`D>L  
    |2l-s 1|y  
     
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