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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 #z~oc^J^T  
     +Rvj]vd}&  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 J|b1 K]  
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    1. 案例 :G`_IB\  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 C6Mb(&  
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    1. 系统构建模块 r*$"]{m}  
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    2. 组件连接器 N7;2BUIXJ  
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    几何光学仿真 sM4wh_lO  
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    以光线追迹 m1<B6*iG"  
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    1. 结果：光线追迹 z~W@`'f  
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          78Gvc~j  
    快速物理光学仿真 \i&yR]LF  
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    以场追迹 ALG #)$|  
     }Bb(wP^B.  
    1. NA=1.4时的光栅成像 MHbRG_zW  
    4*54"[9Hr#  
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    x?%vqg^r  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 W t8 RC  
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    kSJWQ  
    3. NA=0.5时的光栅成像 $""[( d?0  
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