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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 XlD=<$Nk7  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 dH.Fb/7f  
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    1. 案例 Qy"%%keV'T  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 ob8}v*s  
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    1. 系统构建模块 yUf`L=C:  
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    2. 组件连接器 F WU >WHX  
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    几何光学仿真 ?u&|'ASo  
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    以光线追迹 !]}C!dXd  
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    1. 结果：光线追迹 ?Fl O,|   
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    快速物理光学仿真 2"|7 YI  
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    以场追迹 ^fsC]9NS  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 etX(~"gG_  
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