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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 @`G_6 <.`  
     36` aG Y  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 0t*JP  
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    1. 案例 H^_[nL  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 %L.,:mtq)  
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    1. 系统构建模块 j +\I4oFN  
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    2. 组件连接器 C|5eV=f)P  
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    几何光学仿真 N&K:Jp  
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    以光线追迹 a)^f`s^aa  
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    1. 结果：光线追迹 dX-{75o5P  
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          cW4:eh  
    快速物理光学仿真 cod__.  
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    以场追迹 -'QvUHL|  
     75v 5/5zRn  
    1. NA=1.4时的光栅成像 v: cO+dQ  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 TUHC[#Vb?  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 FPE[}  
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