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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 f\u5=!kjN  
     6^QSV@N|  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 #,S0uA  
    BK 9+fO  
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     \R.Fmeko  
    1. 案例 GswV/V+u  
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     M?v`C>j  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 j&l2n2z  
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    1. 系统构建模块 fX/k;0l  
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    2. 组件连接器 9xRor<  
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          t@cImmh\T  
    几何光学仿真 ^K?Mq1"Db  
     tD+K4 ^  
    以光线追迹 umI6# Vd`=  
     "vF7b|I  
    1. 结果：光线追迹 df8aM<&m3  
    fctVJ{?  
    9$=o({  
          qwvch^?>FQ  
    快速物理光学仿真  t@+z r3  
     UEH+E&BCC  
    以场追迹 VI;)VJbq  
     87OX:6  
    1. NA=1.4时的光栅成像 9V?:!%J  
    nD!5I@D  
     gVN&?`k*?  
    pVC; ''E  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 5@`DS-7h  
       A08{]E#v>  
    e"]DIy4s  
    b\^9::oY  
    3. NA=0.5时的光栅成像 c n^z=?  
       Wu U_R E  
    P7y.:%DGD0  
     
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