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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 U!3uaz'  
     \f ~u85  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 i&? 78+:  
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    1. 案例 0YgFjd 5  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 96^1Ivd  
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    1. 系统构建模块 fbW,0  
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    2. 组件连接器 |>m# m*{S  
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    几何光学仿真 o%9Ua9|RR  
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    以光线追迹 !rN#PF>  
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    1. 结果：光线追迹 w7.?zb!N  
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    快速物理光学仿真 -X6\[I:+A  
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    以场追迹 Z n"TG/:  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 P*nT\B  
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    V"D<)VVA  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 !D|pbzQc8  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 t,r&SrC  
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