切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 200阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6058
    光币
    24443
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 /}Jj  
    =]:>"_jN  
    显微系统分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 'F>'(XWWQ  
    !Mi;*ZR  
    kOI t(e  
    :'#TCDlOb  
    1. 案例 (Qa/EkE^*w  
    V&-~x^JK  
    J[f;Xlh  
    aW>6NDq(  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 T&Lb<'f  
    EEGy!bff  
    1. 系统构建模块 [9 Ss# ~  
    &u#&@J  
    LpR3BP@At  
    gy&[?m6M=  
    2. 组件连接器 %Gt .m  
    z5)s/;Sc  
    v|U(+O  
    \ Y"Wu  
    几何光学仿真 v4C{<8:X  
    m1Y >Nj[f  
    光线追迹 ABUSTf<  
    5nsq[Q`  
    1. 结果:光线追迹 `FoxP  
    9K9DF1SOa  
    4~B> 9<$e>  
    Mn)@{^  
    快速物理光学仿真 7)s^8+  
    &197P7&o  
    以场追迹 !?|Th5e   
    {mAU3x  
    1. NA=1.4时的光栅成像 o7|eMe?<t  
    % LJs  
    5}`_x+$%(`  
    \hB5@e4i2  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 9uGrk^<t  
       =jN *P?  
    ;<leKcvhQ&  
    o<N  nV  
    3. NA=0.5时的光栅成像 R~Ne|V2  
       l5"OIq  
    j$+nKc$  
     
    分享到