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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 .euA N8L  
     ^R@)CIQ  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 C<^i`[&P$  
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    1. 案例 7Fo^ :"  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 y{mt *VA4  
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    1. 系统构建模块 /W,hOv  
    *$0*5d7  
     8wkhbD|;  
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    2. 组件连接器 9]=J+ (M  
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          q("XS  
    几何光学仿真 xW)  
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    以光线追迹 SV t~pE+Y  
     x]wi&  
    1. 结果：光线追迹 apm%\dN  
    GZaB z#U  
    %l&oRBC  
          kfas4mkc  
    快速物理光学仿真 Nut&g"u2  
     #>aq'47j  
    以场追迹 u $-&Im<  
     Fya*[)HBo  
    1. NA=1.4时的光栅成像 <1I4JPh>x  
    ?=Ceo#Er  
     PR|z -T  
    eoww N>-2C  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 #^VZJ:2=|  
       $rW(*#C  
    26aDPTP$<  
    _}p [(sTV  
    3. NA=0.5时的光栅成像 P@UE.0NYX  
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    P,pC Z+H  
     
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