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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 glKs8^W  
     zHum&V8=H  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 rEpKX  
    @2Y]p.$q  
    Tdmo'"m8z_  
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    1. 案例 ~C*6V{Tj  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 t;f p<z7N.  
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    1. 系统构建模块 H1b%:KRVK  
    MzW$Sl&:  
     JjO/u>A3;7  
    A`U2HC   
    2. 组件连接器 BaHg c 4zI  
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          +?m=f}>W1  
    几何光学仿真 sbiDnRf  
     /:L&uqA  
    以光线追迹 90(oV&  
     J<$'^AR9"q  
    1. 结果：光线追迹 jw%FZ  
    Yw1q2jT  
    {ZYCnS&?CL  
          {Ll8@'5  
    快速物理光学仿真 `3s-%>  
     Yiw^@T\H`  
    以场追迹 *l8vCa9Y  
     5lA 8e  
    1. NA=1.4时的光栅成像 6!=9V0G~  
    cFNtY~(b  
     E2/U']R  
    ?[fl$EG  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 S5 oHe4#89  
       8o5^H>  
    o;-! ?uJ  
    {1&,6kJF&9  
    3. NA=0.5时的光栅成像 =,;3z/k%  
       9- <V%eNX  
    G uI sM  
     
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