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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 .H}#,pQ}l  
     fo_*Uva_  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ^ 0g!,L  
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    1. 案例 D}OhmOu 3  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 eZ|_wB'r  
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    1. 系统构建模块 <AN5>:k[pM  
    ^ pNA_s!S  
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    2. 组件连接器 a49t/  
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          E]0Qz? W  
    几何光学仿真 B) BR y%  
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    以光线追迹 2. f8uq  
     fS]Z`U"  
    1. 结果：光线追迹 ]Q -.Y-J/O  
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          /pL'G`  
    快速物理光学仿真 P-\65]`C  
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    以场追迹 SedVp cb+  
     w"q^8"j!  
    1. NA=1.4时的光栅成像 4k)0OQeW6  
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     N=j$~,yG  
    P\%aJ'f~  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 Tbj}04;I  
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    BFQ`Ab+  
    XblZlWP#  
    3. NA=0.5时的光栅成像 %&!B2z}  
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