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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 dB/I2uGl>  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 (0m$W<  
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    1. 案例 :9q^  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 '<D}5u7 2  
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    1. 系统构建模块 gL"Q.ybA  
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    2. 组件连接器 w/W?/1P>q  
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    几何光学仿真 a(T4WDl^  
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    以光线追迹 3^yWpSC  
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    1. 结果：光线追迹 J,KTc'[  
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    快速物理光学仿真 ibUPd."W  
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    以场追迹 U I|@5:J  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 Cy'W!qH  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 Eakjsk  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 ]=<@G.[=  
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