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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 f@Jrbg  
     }6.@  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 k{vbi-^6rf  
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    1. 案例 {K"hlu[  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 +'5I8FE-  
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    1. 系统构建模块 ^vT!24sK  
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    2. 组件连接器 `#l3a  
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          ;>5`Y8s6  
    几何光学仿真 YI7M%B9Lj  
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    以光线追迹 8 I_  
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    1. 结果：光线追迹 ej}S{/<*n  
    {]}94T~/k  
    ZfqN4  
          $qYP|W  
    快速物理光学仿真 6*>Lud  
     7XyCl&Dc:  
    以场追迹 x,U_x  
     %EVgSF!r  
    1. NA=1.4时的光栅成像 ^s7!F.O C  
    h ':ZF  
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    54z.@BJhE  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 b=/'c Q  
       U7 D!w$4  
    0&]1s  
    Ws`ndR  
    3. NA=0.5时的光栅成像 =iKl<CqI$E  
       r*l3Hrho~K  
    Z#H<+S(  
     
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