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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 IW i0? V  
     M:OZWYQ  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 lwt,w<E$  
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    1. 案例 ='D%c^;O8'  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 "24d:vf\  
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    1. 系统构建模块 5YPIv-  
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    2. 组件连接器 m`zd0IRTP  
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    几何光学仿真 8bMw.u=F  
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    以光线追迹 !-qk1+<h  
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    1. 结果：光线追迹 @Z$fEG)9  
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    7.NL>:lu  
          Z{(Gib~{N  
    快速物理光学仿真 |1ry*~  
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    以场追迹 |:(BI5&S  
     ;w%g*S  
    1. NA=1.4时的光栅成像 NY?iuWa*g  
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    "e\73?P  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 .w\4Th#  
       uq:'`o-1  
    wAR:GO'n  
    aAoAjVNkK  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Gg6cjc=dC  
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