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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 j,79G^/YG  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ce<88dL  
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    1. 案例 |/X+2K}3  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 0TqIRUz "C  
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    1. 系统构建模块 $}t;c62  
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    2. 组件连接器 > ofWHl[-  
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          >ra)4huZ  
    几何光学仿真 fD*jzj7o ,  
     wz{&0-md*'  
    以光线追迹 {#,?K  
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    1. 结果：光线追迹 f&I5bPS7}  
    3~\,VO''  
    5i-VnG  
          (H;,E-  
    快速物理光学仿真 {XH3zMk[  
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    以场追迹 VKcVwq  
     +W"DN5UV  
    1. NA=1.4时的光栅成像 7;a  
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    r8>Qs RnU%  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 1Q7]1fRu  
       c6cB {/g  
    pHKc9VC  
    MxqIB(5k  
    3. NA=0.5时的光栅成像 #s{EIj~YR_  
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    ;!B,P-Z"g  
     
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