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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 UVgSO|Tg  
     ?gvu E1  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 SK 5]7C2  
    MpJ<.|h  
    O2="'w'kR  
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    1. 案例 ZZCm438  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 fM*?i"j;Y  
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    1. 系统构建模块 RQ^ \|+_  
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     V3d$C&<(  
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    2. 组件连接器 eL}X().  
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    几何光学仿真 tXZMr   
     3MKu!  
    以光线追迹 .n)R@&9  
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    1. 结果：光线追迹 *W>, 98  
    ;vX1U8  
    gjX1z{{~L  
          Y> }\'$\b  
    快速物理光学仿真 S'NLj(  
     WpnP^gmX  
    以场追迹 8Djki]  
     D<<q5gG  
    1. NA=1.4时的光栅成像 G#6Z@|kVw  
    -!li,&,A1  
     IXR'JZ?fH  
    \+l_H4\`K  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 cx&\oP  
       M7 k WJ  
    `ah|BV  
    GU/-L<g  
    3. NA=0.5时的光栅成像 oayu*a.  
       ki/Cpfq40*  
    6KXW]a `  
     
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