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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 +&H4m=D-#a  
     P[fq8lDA  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 wVtwx0|1  
    A^SgI-y|  
    *lJxH8\  
     [()koU#w.  
    1. 案例 u9p$YJ  
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     |;{6& S  
      e&>2 n  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 <wHP2|<l*  
     Yx`n:0  
    1. 系统构建模块 b| (: [nB  
    "d}Gp9+$VY  
     V0Hj8}l;M  
    &uVnZ@o42  
    2. 组件连接器 uhq8   
    akTk(  
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          F((4U"   
    几何光学仿真 #B w0,\  
     y8xE 6i  
    以光线追迹 cm+P]8o%{  
     \z)%$#I  
    1. 结果：光线追迹 'Z]w^<  
    pQQH)`J|t  
    QTnP'5y  
          Zj Z^_X3  
    快速物理光学仿真 f%8C!W]Dm  
     K@%].:  
    以场追迹 V28M lP  
     bW:!5"_{H  
    1. NA=1.4时的光栅成像 y<.5xq5_3  
    !p/goqT~dY  
     -tU'yKhn  
    lk=<A"^S  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 *yGGBqd  
       {2gwk8  
    -I%5$`z  
    c[s4EUG  
    3. NA=0.5时的光栅成像 u]G\H!Wk Q  
       {\\T gs  
    - ! S_ryL  
     
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