-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-11-03
- 在线时间1997小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 DT7-v4Zd R^Eu}?<f
J?,!1V= 48"Y-TV 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 :xUl+(+ 3K'o&>}L 建模任务 {dSU
\': qNQ3(1xW
%Cbc@=k nLN6@ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 K&gc5L s%TO(vT
5\*wX.wp ;(iUY/ h[h 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Z@aL"@2]a O'sr[
r@@eC['
|