切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 385阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6511
    光币
    26700
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 $.31<@T7  
    m>?|*a,  
    Z-yoJZi  
    g4{0  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 !)}D_9{  
    [&l+Ve(  
    建模任务 "ZA`Lp;%w  
    j,Qb'|f5  
    O&}R  
    T5}5uk9  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 t3C#$ >  
    ,Ek6X)|@  
    1lJ^$U  
    ;F"Tu  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 AP8J28I  
    54/ZGaonz  
    >h~>7i(A  
     
    分享到