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摘要 JOLaP@IPT "s_lP&nq
q,eVjtF 6}Y#= } 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 <=0
u2~E >!1. 建模任务 J@Q7p} .:QLk&a,:,
,1CIBFY hUMf"=q+ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 u=7J/!H7^ R1GEh&U{
os={PQRD M`i\VG 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Q;JM$a?5iV sCk?
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