-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 -*K!JC- '%m0@5|hCD
f~.w2Cna jbHk 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 P~+?:buqc `37GVo4 建模任务 ] _/d B9Dh^9?L
7\
<4LX J\%<.S> 由于组件倾斜引起的干涉条纹 !7g
E 1@ j>2>i
x Qh? G@)I 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 I@=h|GM rI:KZ}GZ
1 ]@}+H
|