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    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 +FlO_=Bu  
     jf~-;2  
     ]=T-C v=t  
    @xPWR=Lb  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ;{K/W.R  
     >_LZD4v! <  
    建模任务 ZE0D=  
    ;=E!xfp5U  
     bZzB\FB~  
    ~{gV`nm=J  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 xa|/P#q  
    w4\g]\  
     T!Eyq,]  
    z!:%Hbh=  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KMogwulG  
    yM*f}S/ (  
     -_"6jU  
     
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