切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 577阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7032
    光币
    29305
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 $}8@?>-w  
    [e f&|Pi-  
    v vzPt.ag  
    !I jU*c@  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Mpx98xcO  
    p~3 (nk<+  
    建模任务 2)MX<prH  
    3]li3B'  
    eqSCE6r9x  
    i?:#lbw_  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ;wa#m1  
    CxD=8X9m  
    H{4_,2h =m  
    ;Xl {m`E+  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,}:}"cl  
    JI[{n~bhGD  
    -x VZm8y  
     
    分享到