切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 347阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6354
    光币
    25915
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 Pn J*Zea  
    u6p5:oJj,  
     `11#J;[@G  
    ,{pGP#  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 WzlS^bZ  
     5=m3J !?  
    建模任务 DH/L`$  
    }z?xGW/k  
     W8x[3,gT  
    &8waih(|  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 Y!;gQeC  
    aSTFcz"  
     H):-! ?:  
    Gj5>Y!9  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 o|+E+l9\  
    ;*.(.  
     %P(;8sS  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表