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摘要 E^ _ P
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]= 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =YkJS%)M)
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 a(s}Ec${Z {`BC$V 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 B\A2Vm`& di}YHMTx
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