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摘要 MtTHKp *`'%tp"'+
n8aiGnd=v
}U1shG[ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 *]?YvY ,.MG&O 建模任务 vg1s5Yqk t1g%o5?;
ui0(#2'h% sswAI|6ou 由于组件倾斜引起的干涉条纹 BTtYlpN6 6.=1k
T7_rnEOO oioN0EuDk 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 _tJURk% tO3B_zC
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