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摘要 n>@oBG)! 21k5I #U
\RNg|G (&/2\0QV 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 f0Bto/,>~ &zs'/xv] 建模任务 vJAZ%aW 3u%{dG a
P[s8JDqu o7IxJCL=Q 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ss;R8:5 +`?Y?L^
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