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    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 B vc=gW  
    O;BPd:<  
     L#Y;a 5b  
    yFo5pKF.J  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ?< QFW#:)  
     .*blM1+6i/  
    建模任务 uek3Y[n  
    Fw m:c[G  
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    JrTBe73.]j  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 z:5ROlk0  
    u_8 22Z  
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    :,,y63-f4  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 A5ID I<a  
    jt--w"|-r  
     %Qz`SO8x?  
     
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