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摘要 $"i690 ,,J3 h
ep?0@5D}] m7"f6zSo( 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 [v`4OQF/ cDx^}N! 建模任务 :9#`|#uh |W <:rT
m=9N^_ wgyO% 由于组件倾斜引起的干涉条纹 A1q^E(}O 3wE8y&
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=l(JJ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 /kz&9FM m\f_u*
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