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摘要 p3:x\P<| Y;je ::"
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*; p#O#MN* 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =iRi9r'l l^ni"X 建模任务 d3T|N\(DL >U^AIaW
%5*gsgeI k0?4vA 由于组件倾斜引起的干涉条纹 FyYQ4ov0&o 6g!#"=ls;
FpE83}@".w 9u1)Kr=e 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,JT|E~P?8 :Tw3Oo_~S
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