切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 244阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 m_>~e}2'A  
    Dlu]4n[LB  
     ou'|e"tI  
    Xw9"wAj  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .2STBh.;  
     R{Qvpd$y  
    建模任务 oJ)v6"j  
    %Z6\W; (n  
     +jz%:D  
    "0l7%@z*)q  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 55|.MXzq  
    {Ng HH]]O  
     ( 0Z3Ksfj1  
    Rk52K*Dc  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 .FAuM~_99b  
    g4>1> .s  
     p` LPO  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表