摘要 'QV4=h` wM&G-~9ujk 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
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yw 3Q ]MT 简介 ~clWG-i
uo{QF5z] v[|iuOU 步骤 1
cu"%>>,, - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
S77Gc:[;8 步骤 2
[)Ge^yI7 - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
14&EdTG. 步骤 3
d}=p-s.GA - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
67g/(4 & 步骤 4
f*5"Jh@ - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
='JX_U`A^F 步骤 5
~8X'p6 - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
"Dk:r/ 步骤 6
2
g8PU$T - 将导入的数据阵列加载到采样界面
hB.dqv]^ `Q8 D[ 步骤 7 .
@3@%9E - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
&qU[wn:1 B%pvk.` 步骤 8
|}}]&:w2 - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
MQ+ek4 1,QRfckks 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 /f[_]LeV] a9I8WQ zXD@M{ 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
|<V{$),k L~$RF {$ 文件信息 8j$q%g eXd(R>Mx