摘要 /}_OCuJJ, F vJJpPS 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
XM0;cF "E? 8.`T 简介 MNy)= d&<P
Hk65c0 S6.N)7y 步骤 1
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C0iTV'I - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
/0w?"2- 步骤 2
410WWR&4_ - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
u )'l|Y 步骤 3
oXCZpS - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
k'_p*H 步骤 4
^7l.!s#$b - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
0(owFNUBs 步骤 5
v>vU]6l - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
T>"GH M 步骤 6
wH:'5+u:6 - 将导入的数据阵列加载到采样界面
qO5.NIs QlbhQkn 步骤 7 .
Y,v8eOo45S - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
?0Xt | UOWOOdWSB 步骤 8
bLx70$ - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
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-0KQR{LI 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 l)PEg PSRV 69Y>iPRU G$ l>By 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
;pU#3e+P8 {C=d9z~: 文件信息 )^&,[Q=i ulnG|3A9