摘要 &8.z$} m EsS!07fAM: 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
~V|KT}H Iy-u`S 简介 %9cqJ]S 
Lp~c 步骤 1
s-y'<(ll - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
)vxVg*.Ee 步骤 2
T`j - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
aj%
`x4e A 步骤 3
6k@[O @) - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
VK"[=l 步骤 4
>V 3W>5 X - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
&xF4p,7 步骤 5
#{.pQi}) - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
\0xzBs1! 步骤 6
^S>!k t7io - 将导入的数据阵列加载到采样界面
^2(";.m tauP1&%oH{ 步骤 7 .
ZzSJm+&' - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
)3d:S*ly T749@! v`z 步骤 8
`V$cz88b - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
c1=;W$T(s a2 IV!0x 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 OqUE4. vIP )i?{;%^ m k$Y oz 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
% DHP hwG||;&/H 文件信息 .l" _ K LK oM\g( 
