摘要 yGV>22vv
M rJRg4Rog 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
&Du S* 'C>sYSL 简介 f'M([gn^_
_~F
0i? EiZa,}A 步骤 1
bg)}-]u] - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
p|BoEITL 步骤 2
)dJx82"
l - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
eYu 0") 步骤 3
uK ,W - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
+NiCt S 步骤 4
sN#ju5 - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
ip1gCH/?_+ 步骤 5
hp2$[p6O - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
d..JW{ 步骤 6
;=6EBP% - 将导入的数据阵列加载到采样界面
jCIY(/ }-u%6KZ 步骤 7 .
=4V SbOlZ - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
GY^;$ ? C46jVl 步骤 8
:l?mNm5 - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
@S>;t)\J }Fox 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 'P[#.9E lXzm) lWT`y 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
rI6+St j9vK~_?; 文件信息 AD@ {7 $TK= :8HY