摘要 IMFDM."s 4B1v4g8} 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
rU:`*b< y2dCEmhY 简介 Sq V},
_Ey9G _/$Bpr{R 步骤 1
n
ATuD - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
^7cGq+t 步骤 2
\ a<h/4#| - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
}OR@~V{Gj 步骤 3
@V sG' - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
J?1 uKR 步骤 4
^ogt+6c - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
286;=rN]* 步骤 5
bHYy }weZ - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
Yui3+}Ms 步骤 6
orpri O|qD - 将导入的数据阵列加载到采样界面
dr}`H,X"3 mHTXni<! 步骤 7 .
ZohCP - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
TDKki(o=~ tjGn|+|k 步骤 8
CS5?Ti6 - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
BwGfTua -H@:* 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 sN*N&XG X1|njJGO1 qp}Cqi 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
&K.d'$q ;O6;.5q& 文件信息 gQg"j) "@@u3`#