摘要 rA B=H*|6 stUv! 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
U,v`md@PX 5CN=a2& 简介 2\k !DF 
S|k@D2k= 步骤 1
8~-TN1H - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
nA("
cD[, 步骤 2
f~a
7E;y - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
# @`c7SR 步骤 3
H+Bon=$cE! - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
iBbaHU*V 步骤 4
=0Y0o_ - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
`Kf@<= 步骤 5
Sq_.RU - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
T5ky:{Y( 步骤 6
m)pHCS - 将导入的数据阵列加载到采样界面
h~Z &L2V JcmMbd&B 步骤 7 .
mkyYs[ - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
f['lY1#V1 5Wa)_@qI)` 步骤 8
*f;$5B#^ - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
s-Yu(X2
&R4?]I 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 RxJbQs$Ph :M{
)& {D 27c0wz q 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
t8 55 | cRr3!<EZ 文件信息 Oi: Hs x
zF 
