摘要 2y!aXk\#C ]Sa#g&}T> 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
/HhA2 (g% yUpN`; 简介 -s`Wd4AP
'q |"+; R%\3[ 步骤 1
&oB*gGRw=7 - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
A:GqR;;"x> 步骤 2
mI4GBp - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
vN],9q 步骤 3
b|DU - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
e@0|fB%2 步骤 4
r,0D I - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
?hc=w 2Ci 步骤 5
eLORG(;h4 - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
p}1gac_c 步骤 6
R3lZ|rxv: - 将导入的数据阵列加载到采样界面
,\P|%yv gWa0x- 步骤 7 .
xt pY* - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
'l~7u({u JmK
)Y# A 步骤 8
\y=28KKc:c - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
*<:X3|3E 50-7L, 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 gL&w:_ 3))R91I yx-"&K=` 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
uKM` umE I5l%X{u"N 文件信息 ~(XaXu 6O6B8