摘要 {TMng& A=e1uBGA 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
vk( I7 Gi$\th, 简介 2e3AmR@*
yT7{,Z7t Dvl\o; 步骤 1
:6EX-Xyj - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
EQZ/v gho 步骤 2
FB>P39u - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
0QrRG$<4X 步骤 3
oblw!) - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
EqIs&){ 步骤 4
w Bm4~~_ - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
T<yfpUzX 步骤 5
|q\i, } - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
Ju;^^ 步骤 6
bun_R- - 将导入的数据阵列加载到采样界面
z\K% Y( K`3?A 步骤 7 .
M;KeY[u - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
9]tW; ? >Apa^Bp 步骤 8
j-FMWEp - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
,MHF HoWK#Nz\ 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 H{EZ} *{M4 Cyg(~7] %6M%PR~u 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
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