摘要 }?^]-`b G3dA`3 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
q1pB~eg5 l/-qVAd!q 简介 = P$Q;d
~yiw{:\ O;+
sAt 步骤 1
{4eI}p< - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
i F \H 步骤 2
d.$0X/0 - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
7sq15oL 步骤 3
;a 6Z=LB - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
t?wVh0gT 步骤 4
7:e5l19 uI - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
nxMZd=Y 步骤 5
4^T_" W} - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
W:>XXUU 步骤 6
{t!Pv2y< - 将导入的数据阵列加载到采样界面
^cCNQS}r TeRH@oI 步骤 7 .
K_F"j!0 - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
Yk0/f|>O #'dNSez5 步骤 8
q.VZ P - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
4JRQ=T|P7I EV@yJ] 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 I%l2_hs0V ~S\, ny:/a 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
U".5x~UC $8}'h 文件信息 ,\T7{=ZG\! F^.~37=@