-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ~_ P YNY`"
+ld;k/
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台，以便在系统制造之前研究系统的性能，以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一，杂散光可能有多个来源，其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中，我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在，我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散)，并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 iBvOJs jXR1 6|  gdi`x|0 K]"Kf{bx 建模任务 ;~/4 d - mJMq{6;  t[2i$%NVM
 {;k_!v{ 7~vqf3ON4J 准直系统 Z .Pi0c+ GS%b=kc  3{3/: 7
fIyPFqf7w) 非序列追迹 3k{ @.V ?]
knSuzq%*
 GZ3/S|SMP D/s?i[l b 总结—元件… IJPgFZ7 C1QWU5c v  &O tAAE
']?=[`#NL
 sv=H~wce o#e7,O 系统光线追迹结果 `C'}e n\= ( S9  -,GEv%6c kZ[mM'u# 完美的减反射(AR)涂层 o}~3JBn T Y:pRcO.4g  @ ER1zK K? Jz$ >k$!UD 有内部反射 q^Inb)FeN
Ae3,^
 QS\
x{<e/
|
