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摘要 =? x A*_^ 11
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* 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ;X\>oV3# }_M.-Xm -?!Z/#i4 LIVVb"V|, 建模任务 ;=6++Oq y6;'?.Y1 '&3Sl?E
`2NL'O: `ivr$b# 准直系统 Uz H)fB [(`T*c.#.X /,= wP) \x x<\8Qr_ 非序列追迹 &tQ,2RT :%A1k2
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总结—元件… ZH`6>: tB[(o%k bK("8T\? r#]gAG4t\
q`}Q[Li A@_F ;4X 系统光线追迹结果 &6MGPh7T 3T Q#3h ez86+ J*,Ed51&7 完美的减反射(AR)涂层 PQvq$|q /43DR;4 8+
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