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摘要 {_+>"esc (}~ 1{C@ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 3Ro7M=] K1CMLX]m HP1X\h!Ke {"Y]/6 建模任务 z2$FYn Q "Vs
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c|8KT bi,rMgW 准直系统 5LnB]dW Y>c5:F; C _k_D \v B9fA:* 非序列追迹 !!\4'Q[ m|g$'vjk
jnx+wcd GN8`xR{J* 总结—元件… xX[{E x u&Ie%@:h9R 4?*`: "y3dwSS
5[0l08'D [7CH(o1a& 系统光线追迹结果 y^vfgP<@ M]pel\{M VbY>l' rY :5n"N5Go 完美的减反射(AR)涂层 ]ys4 BBZ)H6TzL gw*yIZ @3) cftn`:(&8 有内部反射 yBD.Cs@ jtlDS f#
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