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摘要 v}=3 Z=ayVsJ3 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 blwdcdh _.xT
:b36 kKFSCl/g ]7QRelMiz+ 建模任务 +fgF &. |P_\l,f8` `ym@U(;N
y\'t{>U/ qsB,yckml 准直系统 +F &,,s"& ^y?7B_%:B# &S}i)Nu6J FuOP+r!H 非序列追迹 @j%r6N `"0#lZ`n
dOm#NSJVd 5Rv6+d 总结—元件… +Xi#y}% }+[H~8)5 4:\s.Z{!3 8oSndfV
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pV#~$e 系统光线追迹结果 Y[AL!h 360V ,}!OJyT mPNT*pAO 完美的减反射(AR)涂层 sXzxEhp Azx4+`!- u>Z0ug6x '`q&UPg] 有内部反射 (F$V m .:tAZZ
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