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摘要 1#|lt\T Z" l].\=
F 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 vEE\{1 S6JWsi4C:, ~USyN'5lU7 0<<ATw$aQ 建模任务 19[.&-u" ([SJ6ff]& U.Z5;E0:
`Um-Y'KE Oku7&L1 准直系统 osO\ib_% YJDJj
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<hEI g^#,!e 非序列追迹 IQ$ 6}. }Q^*Zq9-
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