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摘要 er#we=h !zJ.rYZ=g` 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 3&y
u {eZj[*P HqF8:z?v A+F-r_]}db 建模任务 ~ml\| wj'iU&aca e0$mu?wd-
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_$cBI_eA7 _x'StD 系统光线追迹结果 8/F2V?iT 2 sOc]L:9 ^7''x,I (i?^g & 完美的减反射(AR)涂层 uB^]5sqfk 3AL.UBj&} .^NV e40O jF5JpyOc 有内部反射 .Lp-'!i 'H9~rq7
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