-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-11-02
- 在线时间1996小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 zxyl+tU & j q+(2 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 `w@:h4f 7Uenr9)M 86ao{l6l C \x<8 建模任务 wI.aV> S6~y!J6Ok4 (@?mm
CFtQPTw Sc<dxY@w7- 准直系统 384n1? ~ ld.I4 ,B <\a :/5m
D 非序列追迹 >ahDc!Jyu z0 "DbZ;d
tLE8+[
SU 0m@+ &X>w 总结—元件… T+Oqd\05.+ ,-UF5U u?^V4 +V \6b~$\~B
aKI"<%PNn l<=;IMWd 系统光线追迹结果 [&lK.?V) }d[(kC_ A
6(` 3?93Pj3oPt 完美的减反射(AR)涂层 !<[+u q<YM,%mgj }lZEdF9GhG N`8K1{>BH 有内部反射 -cgO]q+Oq ~1G^IZ6
MB]E[&Q!
|