切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 963阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7180
    光币
    30041
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 er#we=h  
    !zJ.rYZ=g`  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    3&y u  
    {eZ j[*P  
    HqF8:z?v  
    A+F-r_]}db  
    建模任务 ~ml\|  
    wj'iU&aca  
    e0$mu?wd-  
    <M&]*|q>g%  
    (QRl -| +  
    准直系统 .ERO*Tj  
    ^U`q1Pg5  
    _b5iR<f  
    GUp51*#XR  
    序列追迹 X4k/7EA  
    F`- [h )e.  
    d.} rn"(z  
    D$mrnm4d  
    总结—元件 <.v6w*+{/  
    a<o0B{7{BM  
    >u/yp[Ky  
    <bjy<98LT  
    _$cBI_eA7  
    _ x'StD  
    系统光线追迹结果 8/F2V?iT  
    2 sOc]L:9  
    ^7''x,I  
    (i?^g &  
    完美的减反射(AR)涂层 uB^]5sqfk  
    3AL.UBj&}  
    .^NV e40O  
    jF5JpyOc  
    有内部反射 .Lp-'!i  
    'H9~rq7  
    g Q9ff,  
     
    分享到