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摘要 d"T Ht} kv?| 'DN
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台，以便在系统制造之前研究系统的性能，以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一，杂散光可能有多个来源，其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中，我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在，我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散)，并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 5lmO:G1 raB+,Oi$G  3$p#;a:=n Yx)o :#2 建模任务 SUdm 0y J|QiH<  faJM^ u
 XZph%j0o d?L\pN& 准直系统 =@ r--E i|$z'HK;+  TI9 X.E?
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 UTk r.T+2X e<\<,)9@/ 系统光线追迹结果 a/:XXy | m *X7T  Ok H\^ F9Z @x) 完美的减反射(AR)涂层 ?&c:q3_-Z r|R7- HI  fEnQE EU~P Tj`5L6N;8 有内部反射 Je7RrCz G*n2Ii
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