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摘要 ppR_y ,$}P<WZMu 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 oMLpl3pl &'WgBjP y3 LWh}~E 0w< iz;30 建模任务 k,X)PQc PgB=<#9 a+A/l
K.o?g?&< 6du"^g 准直系统 y|.wL=; </bWFW~x p&Nw:S mTZlrkT 非序列追迹 8}xU]N#EV JR
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