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摘要 ,_!pUal ;/XWX$G@ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 nVoL7ew+ r,cV( c/jU+,_g %|*tL7 建模任务 N<zD<q [d`J2^z} `WboM\u
jL8.*pfv H{x'I@+ 准直系统 AU -, <~X4&E]rT_ ]u?|3y^( -,)&?S 非序列追迹 _ho9}7 > E z?O
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P(a!I{A( 系统光线追迹结果 fd!bs*\X s;Q0 Q'5]E{1<'n [3lAKI 完美的减反射(AR)涂层 K~$A2b95 Gf_Je & Xm!i(i io%WV%1_ 有内部反射 $9YAq/#Q [1nfSW
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