切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 507阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6243
    光币
    25360
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 ^vmyiF  
    Pxj ?W'|  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    v?\bvg\E  
     R9->.eE  
    ;,y9  
    24Y~x`W   
    建模任务 av1*i3  
    l*]L=rC  
    j_?U6$xi  
    Y24: D7Q  
    MOFIR wVZ+  
    准直系统 ,OLN%2Sq  
    Pv`^#BX'  
    `bGAc&,&  
    ESZ6<!S  
    序列追迹 CW Y'q  
    nJYcC"f  
    :G|Jcl=r  
    |/g\N, ]  
    总结—元件 j"E_nV:Qc  
    LmLV2f  
    '$M=H.  
    ~PUz/^^ s  
    m&OzT~?_>N  
    DB yRP-TH  
    系统光线追迹结果 #{ M$%l>  
    Ftm%@S?  
    !V.'~xj  
    [KR`%fD0  
    完美的减反射(AR)涂层 S2" p(  
    :<s)QD  
    -\j}le6;c  
    ">kf X1LT  
    有内部反射 er}/~@JJ  
    [t /hjm"$  
    ~?dPF;.6_  
     
    分享到