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摘要 ';YgG<u Ob@Hng%v 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 1"E\C/c KFhG ( `lCuU~~ag K&`Awv 建模任务 00<{: &a #GXf NB)t7/Us
szq+@2: *8A6Q9YT 准直系统 %v=!'?VT -F`he=Ev9 ;;#nV$ o:\XRPB 非序列追迹 @EZ>f5IO+ 7 `Du5>b8
R}%8s* bx;f`8SN 总结—元件… WmVVR>0V| z^`]7i 3 wt U ":"geU
!#}>Hv^N I'_v{k5ZI 系统光线追迹结果 zixEMi[8 [MmM 9J[" \qq-smcM- $WaZ_kt 完美的减反射(AR)涂层 n<R \w''x %C*^:\y Slx2z%'> e- 6(F4 有内部反射 eV;me>, kK?zVH-!
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