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摘要 1Q3%!~<\s /o~
@VF: 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 NN?Bi=&9 -{.h\ +*]SP@|IYI Q2??Kp]1 建模任务 ,|=iv FC|y'j 0 )3d:S*ly
W\z L ~0:$G?fz 准直系统 0^_)OsFA m mw)C" h?M'7Lti <L[ *hp 非序列追迹 fte!Ll' o%QhV6(F
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E3 +X4ttv 总结—元件… GZ-n!
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\Mh4X`<e 7zi^{] 系统光线追迹结果 Ji)a%j1V9 A_8`YN"Xk bDcWb2lqs INeWi= 1 完美的减反射(AR)涂层 GNj/jU<o! :$u{ 9^=t@ FeincZ!M 有内部反射 ?`BED6$`G9 d60Fi#3d
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