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摘要 d{7)_Sbky /{/mwS"W 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 d(@ ov^e- 9Zmq7a
E Ed{sC[j= g$vOWSI+ 建模任务 fU\;\ 6#.9T;& bE@Eiac
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c/:k|x a;nYR5f 总结—元件… q}0I`$MU `s3:Vsv4 YfMs~}h, U!K#g_}
z]LVq k g!r)yzK 系统光线追迹结果 #JY> W^S]"N0u @v!#_%J cS2]?zI 完美的减反射(AR)涂层 Ul'H(eH.v Fu\#:+5\ h(3-/4 Y=O-^fL 有内部反射 8Bh
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