切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 459阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6066
    光币
    24483
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 |pB[g> ~V  
    vr#_pu)f4  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    V<f76U)  
    K1c@]]y)  
    r9@4-U7v&  
    Y'6GY*dL  
    建模任务 8':^tMd  
    ,1+AfI  
    u'"VbW3u n  
    595P04  
    L$*sv.  
    准直系统 FbRq h|  
    ;<qv-$P  
    }Xv2I$J  
    Z6G>j  
    序列追迹  p]z *  
    afEhC0j  
    0_7A <   
    z& !n'N<C  
    总结—元件 Ar@" K!TS  
    ]<\Ft H  
    D,Ft*(|T  
    f"emH  
    G[7Z5)2B  
    /DPD,bA  
    系统光线追迹结果 9\F:<Bf$#  
    Qp9)Rc5  
    EN^C'n  
    $J8?!Xg  
    完美的减反射(AR)涂层 MpZ #  
    Na8%TT>  
    NijvFT$V1  
    A1`y_ Aj  
    有内部反射 }F'B!8n  
    5c*kgj:x  
    'urn5[i  
     
    分享到