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摘要 S3M!"l {C&Uq#V 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 p-IJ':W ,c:NdY(,) ;N#}3lpLqg G@/iK/>5|` 建模任务 PP{9Y Vr =Rx4ZqTI| S3/%;=|
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V\m"Hl>VIU /i8OyRpSyk 系统光线追迹结果 zoi0Z C*ep8{B }Q4Vy r QiRhp 完美的减反射(AR)涂层 ^85Eveu xI{fd1 {!D(3~MI 4_5f4%S 有内部反射 %JrZMs> hy~[7:/<I&
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