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摘要 |pB[g>~V vr#_pu)f4 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 V<f76U) K1c@]]y) r9@4-U7v& Y'6GY*dL 建模任务 8':^tMd ,1+AfI u'"VbW3u n
595P04 L$*sv. 准直系统 FbRq h| ;<qv-$P
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G[7Z5)2B /DPD,bA 系统光线追迹结果 9\F:<Bf$# Qp9)Rc5 EN^C'n $J8?!Xg 完美的减反射(AR)涂层 MpZ
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Aj 有内部反射 }F'B!8n 5c*kgj:x
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