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摘要 _3YuPMaN ZCAdCKX| 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 wjm _bEi rv\m0*\< S_VZ^1X] 1]i{b/ 4 建模任务 As;@T$G D 1Q@4
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qQu}4Ye> .MzVc42< 准直系统 .m]"lH* Az}.Z'LJ kIlc$:K^ ebSG|F 非序列追迹 ([r4N#lx s?8vs%(l
Nj<}t/e J.r^"K\ 总结—元件… ]{Ytf'bG V kA$T8 2L<iIBSJwm 5*ip}wA
CHeU?NtFps `5V=U9zdE 系统光线追迹结果 `m.).Hda pu:Ie#xTDf D+Ke)-/ jIMT&5k 完美的减反射(AR)涂层 \{HbL,s (}W+W\. >VQP,J{ *v}8n95*2 有内部反射 o"te7nBI vU:FDkx*nn
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