切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 429阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5937
    光币
    23838
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 nWh f  
    F+L%Ho;@P  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    x:h)\%Dg<  
    = J]M#6N0  
    #o,FVYYj  
    Ul3xeu  
    建模任务 gSf >+|  
    74&{GCL  
    4~8-^^  
    /1uGsE+[  
    F{_,IQ]U  
    准直系统 e_g&L)  
    SLp nVD:'1  
    s(e1kk}"  
    irP*:QM  
    序列追迹 [ $"  
    b `bg`}x  
    U* uMMb}$  
    |C5{[ z  
    总结—元件 8VuLL<\|  
    3o"l sly  
    ,?`kYPZ  
    I3}]MAE  
    ` k(Q:  
    =W>a~e]/  
    系统光线追迹结果 2|U6dLZ!  
    _>r (T4}]  
    =@q,/FR-  
    3,#v0#  
    完美的减反射(AR)涂层 InRcIQT  
    .u`A4;;Gw  
    MXjN ./  
    C5jt(!pi  
    有内部反射 e@S\7Ks  
    xMa9o  
    J)|I/8!#  
     
    分享到