切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 391阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 O9o]4;  
    1|!)*!hu  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    b62B|0i  
    Q4/BpKL  
    LH=^3Gw  
    C^;8M'8z0  
    建模任务 >;bym)  
    rly%+B `/  
    3&5b!Y  
    ?8?vBkz~  
    @iXBy:@  
    准直系统 JR xY#k  
    O^ui+44wp  
    3 =c#LUA`  
    /988K-5k  
    序列追迹 MEJX5qG6m  
    \%bJXTK&W  
    GCiG50Z=  
    fA?v\'Qq/  
    总结—元件 V/#J>-os}W  
    2<p@G#(  
    surNJ,)  
    bu<d>XR  
    %n8CK->  
    %6rSLBw3  
    系统光线追迹结果 ? daxb  
    &7>]# *  
    +F8K%.Q_  
    S@S4<R1{\  
    完美的减反射(AR)涂层 'W4v>0   
    _KkaseR  
    jb,a>9 ]p  
    dT% eq7=  
    有内部反射 XzX2V">(%  
    3N+B|WrM  
    @ <2y+_e  
     
    分享到