切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 671阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6634
    光币
    27319
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 $Vsk Ew"|M  
    Y;nZ=9Sw  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    YNYx>Ue  
    ,PlO8;5]  
    yPM3a7-Bm  
    NxSu 3e~PS  
    建模任务 1D16   
    N03G>fZ  
    F1iGMf-8  
    h H <J,Wn  
    Nb?w|Ne(T  
    准直系统 @vpf[j  
    (Lo%9HZ1Mx  
    5?p2%KQ  
    Fd?"-  
    序列追迹 b k|m4|  
    $\b$}wy*  
    x2@U.r"zo  
    %cCs?ic  
    总结—元件 6)z?f4,  
    W-Fu-Cz=  
    aqYa{hXio  
    iY`%SmB  
    )v]/B+  
    ;`l'2 z@N  
    系统光线追迹结果 VmCW6 G#M  
    IC6gU$e  
    '#LQN<"4  
    A; 5n:Sd  
    完美的减反射(AR)涂层 zR `EU,  
    f} Np/  
    76>7=#m0u'  
    o]Ol8I  
    有内部反射 / y A7%2  
    T_X6Ulp  
    iZPCNS"  
     
    分享到