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摘要 lN,8(n?g (K$K;f$"r 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 r9Ux=W\ vqLC?{i+ }2Lh'0 xY S9Fg0E+J 建模任务 t)o #!)| Ejdw"P" ,L+tm>I
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K!?T7/@ ^R.#n[-r2 总结—元件… XD`QU m 0lNVQxG UA[2R1}d #Zpp*S55
AElx #`T +dm&XW > 系统光线追迹结果 BRP9j
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