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摘要 #
?1Sm/5k` *b *G2f^ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 cUqn<Z<n \}6;Kf}\ |yyO q m42T9wSsx 建模任务 WH ?}~u9 K/m3 lN,/3\B
LZPuDf~/ 0.$hn 准直系统 }7fZ[J3 EcIE~qs h1 WT { pu85'DV 非序列追迹 n%h^o WPZ?*Sx
T@}|zDC# rG?>ltxB 总结—元件… R(.}C)q3 IcP)FB4 A,i75kd (>J4^``x=
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_<22 系统光线追迹结果 8u[-'pV! l1ZY1#%j %0#1t 5g
F4=}}kU 完美的减反射(AR)涂层 U$oduY# jq'!UN{ B1]bRxwn? 80A.<=(=. 有内部反射 Y|8vO gTRF^knrY
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