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摘要 $Vsk Ew"|M Y;nZ=9Sw 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 YNYx>Ue ,PlO8;5] yPM3a7-Bm NxSu3e~PS 建模任务 1D16 N03G>fZ F1 iGMf-8
h H <J,Wn Nb?w|Ne(T 准直系统 @vpf[j (Lo%9HZ1Mx 5?p2%KQ Fd?"- 非序列追迹 b k|m4| $\b$}wy*
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