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摘要 Kis\Rg @"}dbW <DV 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 f77uqv(Y 6TE RQ X$O,L[] 4 JlsRP 建模任务 s0Ii;7fA{ cU25]V^{\ N(?yOB4gt
4\q7.X+^ VI%879Z\e 准直系统 r'hr'wZ /KEPPp Z'GOp? xPh%?j?*v 非序列追迹 b?o T|@ @A6\v+ih
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Bh*~I_T a> G=3/PYp 系统光线追迹结果 j:|60hDz^ 1X2oz z$-/yT"M K 3&MR=#^ 完美的减反射(AR)涂层 O6OP{sb mo#4jtCE D +)6#i
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