切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 966阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7184
    光币
    30061
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 $-t@=N@vO?  
    H-u SdT  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    |=,jom  
    kF,ME5%  
    H7Z`aQC  
     qbS6#7D  
    建模任务 {=Jo!t;f  
    HRM-r~2:-]  
    C$C>RYE?.  
    :X-S&S X0  
    T2azHo7  
    准直系统 =23@"ji@D  
    > cWE@P  
    y`7<c5zD  
    , .;0xyc  
    序列追迹 7 wEv`5  
    0MxK+8\y  
    %+|sbRBb  
    ybFxz  
    总结—元件 O_.!qk1R  
    8c9<kGm$E  
    MVvBd3  
    #s\kF *  
    b30Jr2[  
    <`; {gX1  
    系统光线追迹结果 "cBqZzkk9j  
    nIfAG^?|*  
    !V/\_P!I  
    L1(-xNUo_i  
    完美的减反射(AR)涂层 |Z2"pV  
    ceCO*m~  
    `0M6<e]C  
    <?!'  
    有内部反射 ]plp.f#av  
    a L+>XN  
    EleJ$ `/  
     
    分享到