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摘要 - @t L]] d^I:{Ii' 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 VMw[M^ JdX!#\O (1)b> 6 {~ 1
~V 建模任务 rs,:pU *.!5327 -=)+)9~G
,D\}DJ`)C wQojmmQ 准直系统 CgKFI fr8hT(,s) 76b2 3| '}E"Mdb 非序列追迹 /@@?0xjX fkD-mRKw
8$38>cGY^ cX|(/h,W/ 总结—元件… Kc+TcC 7x.]
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/`g~lww2O D{^CJ :n 系统光线追迹结果 $"fO/8Ex Za7!n{?0 ?6 "B4%7b J/\^3rCB 完美的减反射(AR)涂层 @m9dB P Wo6C0Z3g} (} Y|^uM, DiSU\?N2' 有内部反射 L<p.2[3 _m3#g1m{
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